EON
ews
n.
566
-
luglio
/
agosto
2013
zabili abbiamo lanciato sul
mercato i sistemi di test per
la diagnostica i1000D, che
possono essere implementati
per il test in-circuit in fase di
progettazione e validazione
senza necessità di sviluppo
di fixture particolari. Que-
sto consentirà ai progettisti
un notevole risparmio. Simi-
li caratteristiche anche per
il nostro sistema per il test
funzionale basato su PXI,
che può aiutare i clienti con
i nuovi livelli di flessibilità per
effettuare i test di “Advanced
Driver Assistance System
(ADAS) e altre tecnologie
emergenti dell’industria auto-
mobilistica. Questi sistemi di
test possono essere utilizzati
dalla validazione del progetto
alla produzione. Dal punto di
vista business, stiamo con-
tinuamente investendo nella
forza vendite e di supporto
per aiutare i nostri clienti sia
localmente che globalmente
D:
In che modo state imple-
mentando queste strategie
(stipula di accordi/collabo-
razioni, nuove acquisizioni,
investimento in attività di ri-
cerca e sviluppo, in risorse
umane…)?
R:
Il nostro focus è sulla inno-
vazione tecnologica attraver-
so i nuovi sistemi di test che
possono aiutare i clienti a ri-
solvere le loro problematiche
di test. Stiamo continuando
a investire nell’automazione,
nella flessibilità e nelle nuo-
ve metodologie di test. Stia-
mo collaborando con i leader
dell’industria, e market maker
per creare nuove tecnologie.
Siamo già pronti a incontra-
re le sfide dell’industria con
il nostri nuovi sistemi di test
che continueranno a evolver-
si per aumentare le applica-
zioni dei nostri clienti.
D:
Qual è la sua opinione ri-
guardante l’andamento del
mercato (rallentamento, cre-
scita, forte incremento…)?
R:
In generale i key driver per
quanto riguarda i sistemi di
test ATE, sono i sistemi In
Circuit Test (ICT) e sistemi
di test funzionali che stanno
guidando l’industria manifat-
turiera. Ci aspettiamo che il
settore continui ad essere
stabile e in crescita, guidato
dai settori in cui stanno in-
vestendo le aziende, come
tablet, industria elettronica
per settore automobilistico,
server per cloud computing
e in generale le nuove tec-
nologie digitali nel mondo
consumer. Pensiamo che il
mercato continuerà a
crescere e che l’in-
dustria manifatturiera
continuerà a essere
solida. In particolare
con i notebook, ta-
blet e dispositivi net-
work, notiamo una
tendenza all’aumen-
to dei test embedded.
Nel lungo termine 10-15 anni,
questo sarà un mercato ab-
bastanza solido e i clienti do-
vranno bilanciare il loro biso-
gno di produzione su una sca-
la globale. Dal punto di vista di
test ci aspettiamo delle diffe-
renti metodologie che dovran-
no essere sviluppate in modo
da effettuare test in modo più
efficiente; nel frattempo si cer-
cheranno nuovi modi per mi-
gliorare la copertura dei test.
Il mercato dell’elettronica del-
l’auto sta investendo in nuo-
ve tecnologie, specialmente
in aree di sistemi di adaptive
driver assistance e nuove tec-
nologie HEV/EV. Questo potrà
aumentare la complessità dei
sistemi di test.
D:
Quali sono le principali
strategie adottate dalla vo-
stra società sul breve/medio
periodo per soddisfare al
meglio le richieste di questo
mercato?
R:
Dal punto di vista dei test
la richiesta dovrebbe au-
mentare in quanto dispositivi
sempre più complessi saran-
no introdotti sul mercato. Le
aziende produttrici cercano di
competere su costi e qualità,
dai nostri clienti ci aspettiamo
più efficienza e più organiz-
zazione nei processi di pro-
duzione.
Per dare la possibilità di mi-
gliorare la capacità produtti-
va
ha introdotto due
nuove
piattaforme
di test in-circuit in li-
nea. I 3070 Serie 5
e i1000D small foot-
print ICT, entrambe
le piattaforme sono
conformi alle speci-
fiche SMEA per l’au-
tomazione delle linee
di produzione e offro-
no le alte prestazioni che gli
utenti ormai si aspettano.
D’altro canto, siamo consape-
voli che le aziende di produ-
zione hanno bisogno di una
soluzione che non sia solo
flessibile, ma anche riutilizza-
bile. Questo vuol dire che la
stessa strumentazione e la
stessa strategia di test può
essere implementata dall’i-
nizio – dalla validazione del
progetto e le fase di sviluppo
del prototipo per finire con la
produzione di massa. Questa
capacità è uno dei punti chia-
ve dietro il lancio del nostro
nuovo Agilent X1149 bounda-
ry scan analyzer. Uno stru-
mento versatile progettato per
aiutare gli ingegneri di test di
produzione attraverso le varie
fasi, dalla progettazione alla
validazione delle schede, riu-
tilizzando il test di produzione
x1149.
Sempre nell’ottica di fornire
strumenti flessibili e riutiliz-
P
arola
alle
A
ziende
ate
17
Agilent Technologies
A
cura
della
redazione
Intervista a NK Chari, director, worldwide marketing & support, measurement
systems division
NK Chari
ll boundary Scan Agilent x1149 è
conforme alle norme IEEE 1149.1
degli standard Boundary Scan.
Il x1149 è in grado di fornire
copertura di test per una PCBA
con dispositivi boundary scan
continua a pag.18
