![Show Menu](styles/mobile-menu.png)
![Page Background](./../common/page-substrates/page0030.jpg)
ANALOG/MIXED SIGNAL
OP AMP
30
- ELETTRONICA OGGI 442 - GENNAIO/FEBBRAIO 2015
rettamente il segnale, gli ingegneri collaudatori di ams
hanno dovuto utilizzare il tester LTX-Credence DIG-
HSB. Purtroppo questo strumento ha una terminazione
in ingresso di 50 ohm e il dispositivo non sarebbe stato
in grado di ricevere la corrente necessaria per l’ope-
razione.
Si tratta tuttavia di un problema riscontrato di frequente
poiché ams utilizza frequente-
mente il DIG-HSB . La soluzio-
ne è un buffer ad alta velocità
disponibile in-house. Facendo
riferimento alla tabella 1, la
specifica per la capacitanza in
ingresso del buffer ad alta velo-
cità è 7,5pF.
Le norme sulla garanzia della
qualità richiedono che la con-
tinuità sia testata su tutti i pin
del circuito integrato, seppur
complicato. In questo caso spe-
cifico, la situazione era deci-
samente complicata. Per poter
testare la continuità su questo
particolare pin, ams ha dovuto
aggiungere un componente in
grado di effettuare lo switch.
Poiché alcuni relè non hanno
Tabella 2 – Capacitanza del relè RF in-house selezionato
Protezione/Schermatura
0,2
pF
Fig. 2 – Acquisizione Iniziale Dati
Fig. 3 – Correlazione tra i risultati ottenuti da ams e dal cliente
Fig. 4 – Acquisizione uscita con nuovo buffer