Tektronix presenta il nuovo sistema S530 basato su KTE7

Tektronix  ha presentato il nuovo sistema di test per la produzione Keithley S530, basato sul software KTE 7 e caratterizzato da numerose novità.

La piattaforma è rivolta al test in fase di fabbricazione di semiconduttori e consente un aumento della capacità produttiva massimizzando il numero di wafer testabili per unità di tempo. La soluzione è rivolta a massimizzare le prestazioni contenendo i costi (CAPEX) degli investimenti in produzione, riducendo il cost of ownership.

Le innovazioni che riguardano il nuovo sistema S530 sono molteplici, come la facilità di migrazione e portabilità dal punto di vista del software di test e il riutilizzo delle probe card e di altri dispositivi già in possesso dei clienti.

La versione S530-HV per alta tensione consente di portare fino a 1100V su ciascun pin e di aumentare il throughput del sistema fino al 50% se comparato con prodotti concorrenti per test di applicazioni WBG. I produttori di chip possono testare in un unico sistema una vasta gamma di prodotti inclusi quelli per automotive secondo lo standard per la gestione della qualità IATF-16949.

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