NI permette di ottenere performance avanzate per strumenti RF in formato PXI

La performance del nuovo Vector Signal Analyzer PXI RF supera la strumentazione tradizionale da rack

Pubblicato il 16 marzo 2011

National Instruments ha rilasciato NI PXIe-5665, un analizzatore di segnale vettoriale (VSA) RF a 3,6 GHz che offre la migliore performance RF a basso costo in formato PXI. Il nuovo VSA offre la migliore accuratezza, dinamica, rumore di fase e rumore di fondo rispetto a strumenti analoghi presenti sul mercato. La piattaforma PXI del VSA facilita lo streaming peer-to-peer; include una flessibile architettura MIMO (multiple input multiple output) per misure di coerenza di fase; e offre velocità di misura che sono almeno cinque volte superiori rispetto a strumenti tradizionali da rack – tutte caratteristiche che lo rendono ideale per le più avanzate applicazioni di test RF automatizzato.

“NI PXIe-5665 non è solo lo strumento più performante nella sua categoria ma è disponibile a costi ridotti rispetto ai tradizionali strumenti da rack – ha affermato Phil Hester, vice presidente senior della ricerca e sviluppo di National Instruments -. “Poiché il nuovo analizzatore RF PXI combina grandi performance con flessibilità modulare in un formato compatto e accessible, gli ingegneri possono usare lo stesso strumento dalla progettazione alla produzione”.

Il VSA combina il nuovo downconverter NI PXIe-5603 con il nuovo sintetizzatore di oscillatore locale NI PXIe-5653 e il NI PXIe-5622, un digitalizzatore di frequenze intermedie (IF) a 150 MS/s. Questa combinazione crea una soluzione ideale per misure di spettro e di segnali vettoriali su un intervallo di frequenze da 20 Hz a 3,6 GHz con un analisi su larghezze di banda superiori ai 50 MHz. Il nuovo VSA presenta un rumore di fase straordinariamente basso di -129 dBc/Hz a 10 kHz di offset a 800 MHz , un rumore di fondo pari a -165 dBm/Hz, un punto di intercetta del terzo ordine di +24 dBm e accuratezza assoluta di ±0,10 dB. Queste caratteristiche fanno del NI PXIe-5665 lo strumento a più alte performance nella sua classe.

Lo strumento di auto-calibrazione su scheda del VSA, unico nel suo genere, permette di ottenere una risposta di ampiezza IF di ±0,15 dB e linearità di fase IF di ±0,1 grado per l’analisi di segnali modulati. Questa accuratezza permette una performance eccezionale nella misura del modulo del vettore errore inferiore allo 0,21 per cento per un segnale 256-QAM. L’architettura modulare e flessibile del VSA si può espandere per permettere acquisizione in coerenza di fase per test MIMO, così come una velocità di scansione di 20 GHz/s e streaming peer-to-peer per un efficiente monitoraggio spettrale. Gli ingegneri possono utilizzare NI PXIe-5665 usando la sua funzione list mode RF per passare in maniera deterministica attraverso un set definito dall’utente di configurazioni RF usando la temporizzazione interna o un trigger esterno per ridurre in maniera significativa il tempo di test.

NI PXIe-5665 diventa parte di una linea di prodotti di più di 1.500 strumenti modulari PXI definiti via software e gli ingegneri possono intercambiare e combinare il VSA con una varietà di moduli e controllare un sistema di test automatizzato intero con il software di progettazione grafica di sistema NI LabView. Questo rende i sistemi PXI ideali per molte applicazioni per test automatizzati. È possibile trarre vantaggio dalle prestazioni definite via software del VSA con i tollkit del software RF per LabView, NI LabWindows/CVI e .NET per testare gli ultimi standard RF e di comunicazione wireless inclusi GSM/EDGE, WCDMA, LTE, WLAN e WiMAX.

Per saperne di più: ni.com/rf/i



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