La tecnologia MIMO introduce nuove problematiche nel test automatico

Dalla rivista:
Elettronica Oggi

 
Pubblicato il 26 novembre 2009

La tecnologia di test di vecchia generazione poteva sempre essere adattata ai nuovi dispositivi, anche a costo dell’aggiunta di un gran numero di sequenze di test. Con i dispositivi MIMO questo approccio non è più attuabile.

Allegato PDFScarica l'allegato

Anteprima Allegato PDF



Contenuti correlati

Scopri le novità scelte per te x