embedded world 2016 – JTAG Technologies

JTAG Technologies ha annunciato la partecipazione a embedded word 2016 (Hall 4, Stand 578)  con due “topics” di estrema attualità: Design for Testability (DfT) e ottimizzazione.

Presso lo stand Jtag saranno mostrati i punti salienti della gamma ATE: ICT, sistemi di ispezione MDA aggiornati con le soluzioni boundary-scan JTAG Technologies, test funzionali tradizionali di National Instruments ‘LabVIEW/TestStand, C ++, linguaggi .NET e altri programmi che presentano spesso programmi di test complessi.

Negli sforzi congiunti portati avanti con diversi produttori di sistemi di test, sono state sviluppate particolari soluzioni hardware e software, che consentono una perfetta integrazione con gli strumenti di test, al fine di poter beneficiare della combinazione di vari metodi applicativi.

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