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19 - ELETTRONICA OGGI 451 - GENNAIO/FEBBRAIO 2016
duttori di testare più dispositivi in parallelo,
sfruttando al meglio i beni strumentali. Oggi,
è in atto una svolta a livello industriale per
sostituire le stazioni che testano un disposi-
tivo alla volta o 2 con alternative a 4 e 8 più
redditizie. In futuro i sistemi non in grado di
testare almeno 16 o 32 dispositivi in parallelo
non saranno più convenienti.
Un approccio innovativo ai test wireless
Per far fronte a queste sfide, NI ha introdotto
il che unisce i
più recenti progressi della strumentazio-
ne PXI con software integrati, flessibili, con
funzioni di switch. Si tratta di una strumen-
tazione pensata per test di produzione ad
alto volume, che supporta un’ampia gamma
di tecnologie wireless: dall’LTE Advanced, al-
l’802.11ac fino al Bluetooth Low Energy.
Internamente il WTS utilizza un ricetrasmet-
titore di segnali vettoriale (NI VST) che com-
bina un generatore di segnali vettoriale (NI
VSG) e un analizzatore di segnali vet-
toriale (NI VSA) nello stesso modulo.
Oltre al VST, il WTS dispone anche di
funzioni di switch integrate multi-port
per il test parallelo o applicazioni di
test multi-port. Grazie alle funzioni di
switch integrate, gli ingegneri riesco-
no a istallare il VST in un’ampia gam-
ma di configurazioni, dal test parallelo
su 8 dispositivi al test parallelo di due
radio WLAN MIMO 4x4.
Il WTS dispone, inoltre, di un’espe-
rienza software unica, progettata per
i test di produzione ad alto volume.
Nonostante il WTS internamente sia
un sistema PXI, gli ingegneri pos-
sono automatizzarlo esternamente
mediante comandi SCPI, grazie a un’interfaccia
Ethernet remota, consentendo un’integrazione più
semplice nell’infrastruttura di collaudo esistente.
Per gli ingegneri che sviluppano i nuovi sistemi di
collaudo, l’esperienza utente del WTS è assistita
dall’integrazione al software di gestione di test NI
TestStand. Infatti, il TestStand Wireless Test Module
dispone di una serie di comandi integrati, capaci di
controllare chipset wireless specifici e il codice di
esempio per i test tradizionali.
Il WTS, infine, è dotato di CPU multicore ad alte pre-
stazioni e FPGA per fornire velocità di misura avan-
zate. I clienti WTS, inizialmente, hanno ottenuto costi
di test più bassi, combinando la velocità di test del
WTS con le tecniche avanzate del test parallelo. Il
responsabile degli strumenti di test di
Peiker Acustic, di recente, ha dichiara-
to che “il WTS ha permesso di ridurre
i costi di test di oltre il 25%”, testan-
do dispositivi multi-standard LTE/
WLAN/GPS.
Il futuro
Con sistemi sempre più complessi, il
collaudo dei dispositivi wireless con-
tinuerà a richiedere nuovi approcci
per i test e le misure. Come ha affer-
mato Olga Shapiro, analista di Frost
& Sullivan, “per mantenere i vantaggi
anche in futuro, le aziende dovranno
riconsiderare il loro approccio ai test
wireless e abbracciare nuovi modelli.”
Per fortuna, lo scorso decennio ha visto notevoli mi-
glioramenti nelle principali tecnologie strumentali:
CPU, FPGA, VCO, DAC e ADC. Questi miglioramenti
non solo consentono alle attrezzature di test mo-
derne di fornire prestazioni analogiche migliori ma
anche una velocità di misura sempre più rapida.
Parte della soluzione alle sfide future dei test wire-
less è una combinazione di strumenti rapidissimi,
un nuovo approccio ai test wireless ed esperti in
ingegneria in grado di mettere tutti questi elementi
insieme. L’esigenza di innovazione nei test sta por-
tando verso nuove soluzioni e NI sta spingendo gli
ingegneri a smettere di preoccuparsi dei test e a
tornare a godersi i prossimi 40 miliardi di dispositi-
vi wireless connessi.
NATIONAL INSTRUMENTS
Fig. 6 – Il TestStand Wireless
Test Module semplifica la fase
introduttiva
Fig. 5 – Il WTS può adattarsi alle applicazioni di test multi-port e multi-DUT