Elettronica_Oggi_432

Table of Contents

Ottimizzare la qualità dell’alimentazione in presenza di forti variazioni di carico - Peyman Safa

20

TECH INSIGHT 24

Tre chip per cambiare il mondo - Giorgio Fusari

24

Analisi a segnali misti per i nuovi oscilloscopi della serie Hdo - Alessandro Nobile

26

Nuove tecniche di gestione del calore - Uwe Jessen

27

Fpga per lo sviluppo di dispositivi mobili “context-aware” - Alessandro Nobile

28

ANALOG/MIXED SIGNAL 30

Crescono i consensi sui transistor in GaN e in SiC - Lucio Pellizzari

30

TECH-FOCUS 34

Mems, i protagonisti del futuro - Lucio Pellizzari

34

Test sintetici per la radiofrequenza e le microonde - Lucio Pellizzari

38

DIGITAL 42

PIC32MZ 32-bit le prestazioni prima di tutto - Filippo Fossati

42

Una memoria con somma di controllo incorporata migliora la sicurezza funzionale dei traferimenti di bit - Walter Battistella

42

COMM 46

Moduli Saw: uno sguardo in profondità - Jürgen Tischhauser

46

Test drive per valutare le prestazioni delle infrastrutture di reti mobili Mike McHale, Par Hulten

52

COMPONENTS 56

Integrati a recupero di energia a bassissimo consumo - Jeff Gruetter

56

Driver per Led ad alta luminosità - Madhan Kumar

64

EDA/SW/T&M 68

Collaudo dei sistemi Call: come sfruttare le sinergia con le piattaforme di test Gsm - Lee Roberts

68

Copertina 77

Mercati/Attualità

79

I vantaggi dei controller in current mode con rilevamento Dcr

81

Risparmiare sui costi dell’energia elettrica con soluzioni “intelligenti” - Marco Peretta

84

L’architettura Dbv permette di ridurre il consumo di energia nelle applicazioni Ict

87

Accumulo di energia: per il fotovoltaico si apre una nuova era

93

Controller DC/DC analogici di potenza con potenziamenti digitali per applicazioni Pol sofisticate

97

News 101

AGENDA 1

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