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NIDays 09 – Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi

Pubblicato il 25 febbraio 2009

Oltre a confermarsi come la maggiore tendenza del 2009 in ambito di test e misura, in risposta ai cambiamenti in atto nell’economia mondiale, la progettazione grafica di sistemi sarà uno dei temi principali di NIDays 09, che si terrà a Milano il 25 febbraio 2009 presso il Centro Congressi Milanofiori. L’unica data italiana dell’evento organizzato da National Instruments sarà strutturata in modo da offrire occasioni di aggiornamento e approfondimento sullo stato dell’arte di settori come controllo e automazione industriale, progettazione di sistemi embedded, misura, collaudo e meccatronica.

L’agenda fitta di appuntamenti prevede una Keynote di apertura dedicata alle anteprime di trend e tecnologie legate alla progettazione grafica di sistemi, “proponendo un viaggio alla scoperta dei vantaggi in termini di efficienza e produttività che l’evoluzione di soluzioni e prodotti NI garantisce”, assicura John Hanks, vice president product marketing di National Instruments. Seguirà la presentazione di Centro Ricerche Fiat dedicata all’ingegneria verde nell’efficienza energetica.

Nel pomeriggio NIDays 09 propone un’ampia scelta di conferenze tecniche, suddivise in sessioni parallele in grado di fornire approfondimenti sulle nuove tecnologie software di National Instruments, tra cui LabView 8.6 e LabWindows/CVI 9.0, sui nuovi dispostivi embedded NI Single-Board RIO, sui nuovi analizzatori e generatori di segnale vettoriale PXI Express a 6,6 GHz, sulla nuova gamma di prodotti NI FlexRIO per incrementare le prestazioni degli I/O basati su Fpga per i sistemi di test PXI e sulla nuova piattaforma Ethernet deterministica.

Le sessioni pratiche dedicate ad automazione, acquisizione dati e visione artificiale consentiranno a tutti i presenti di testare le proprie conoscenze tecniche. Come novità di quest’anno, i partecipanti a NIDays 09 avranno, previa iscrizione, la possibilità di sostenere gratuitamente il livello di certificazione Clad (Certified LabView Associate Developer) e di certificare le proprie competenze tecniche.

La vasta area espositiva ospiterà sviluppatori, partner tecnologici e Alliance Partner di National Instruments, offrendo a tutti i partecipanti la possibilità di condividere successi e fare il punto sulle attuali problematiche legate agli ultimi sviluppi nella progettazione, automazione industriale, controllo, test e misura.

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