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JTAG/BOUNDARY SCAN
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- ELETTRONICA OGGI 454 - MAGGIO 2015
EDA/SW/T&M
Tecnologia JTAG / Boundary
Scan: un’analisi
delle sue potenzialità
e delle modalità di utilizzo
S
in dalla nascita dei circuiti integrati vi è stata la necessità
di controllare le loro funzioni. In tale circostanza il test è
moltosemplice:tuttiipossibilivettoriditestsonoapplicati
in successione, e quindi le reazioni dei circuiti sulle uscite (valo-
re reale) sono confrontati con i modelli attesi (valore nomina-
le). Se non vi sono differenze il circuito funziona correttamente.
Il numero di vettori di test è gestibile con una semplice porta
AND a due ingressi. Secondo Moore e McCluskey il numero è
ottenibile dalla seguente formula:
Q=2(x+y)
Dove
Q = numero minimo di vettori di test
x = numero degli ingressi
y = numero di elementi di memoria (per circuiti sequenziali)
Poiché una porta AND normalmente non ha elementi di me-
moria, ci sono solo quattro vettori di test necessari – che è un
numero gestibile. Se questo calcolo è fatto per un circuito con,
per esempio, 25 ingressi e 50 elementi di memoria, i problemi
di sviluppo dei chip che gli ingegneri dovettero affrontare a
partire dal 1970 diventano evidenti.
All’inizio degli anni ‘70, IBM ha ideato una soluzione a tale
problema con l’invenzione del metodo “Level Sensitive Scan
Design (LSSD)” dove gli elementi di memoria di un chip esten-
dono le loro funzioni. Si aggiungono quindi quattro segnali: un
ingresso (IN), un’uscita (OUT) e due clock (A e B), come ripor-
tato in figura 1.
Con questa soluzione divenne quindi possibile acce-
dere agli ingressi e uscite degli elementi di memoria.
All’inizio del 1980, il problema della crescente complessità
dei PCB con maggiore densità di packaging fu nuovamente
affrontato. Il Joint European Test Action Group, fondato nel
1985, è stato uno dei primi istituti che ha affrontato questo
tema. Ai tempi, questo gruppo era composto da tecnici del
A cura di GOEPEL electronic
La tecnologia di test BoundaryScan/JTAG si
sta via via affermando quale indispensabile
risorsa presso gli specialisti del test. Qui
di seguito un chiarimento sul principio
di funzionamento, caratterizzazione dei
prerequisiti e dei vantaggi di tale tecnologia
e uno sguardo sui futuri sviluppi
Fig. 1 – Collegamenti bus per due Boundary Scan Ics