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EDA/SW/T&M

VNA

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- ELETTRONICA OGGI 449 - OTTOBRE 2015

non è di particolare aiuto. Per ottenere l’informazione det-

tagliata richiesta è necessario impiegare anche uno o più

generatori di tracking, che possono essere integrati nello

strumento o possono essere moduli esterni controllati dall’a-

nalizzatore di spettro.

L’esecuzione della misura di spettro richiede molti passi.

Dapprima va disconnesso il dispositivo in prova dall’analiz-

zatore vettoriale di reti.

Successivamente l’ingresso del DUT va collegato ad un ge-

neratore di segnali e l’uscita del DUT deve essere connessa

all’analizzatore di spettro. Infine è necessario configurare l’a-

nalizzatore di spettro ed il generatore per eseguire la misura

nell’intervallo di frequenza dove la spuria è apparsa nella

traccia del guadagno di conversione. Di conseguenza, pos-

sono essere necessarie varie misure su uno o più ampi inter-

valli di frequenza, seguite da misure su intervalli più stretti,

una per volta.

Questo processo diventa più semplice e veloce con la funzio-

nalità di analisi spettrale integrata nel PNA. L’analizzatore e il

dispositivo in prova hanno tre terminali: LO, RF e IF che con-

sentono una caratterizzazione completa. Inoltre la funzionali-

tà di analisi spettrale è disponibile su tutte le porte del dispo-

sitivo in prova: ingresso RF, uscita RF, ingresso LO e uscita IF.

La capacità di controllare diversi generatori di segnale per

ogni canale dell’analizzatore di spettro consente una miglio-

re caratterizzazione del dispositivo. Ad esempio, scansionan-

do i generatori RF e LO nelle rispettive bande è possibile

osservare spurie “crossing” che possono alterare misure a

uscita costante.

Impiegando le connessioni esistenti verso il dispositivo in

prova, un PNA o PNA-X possono eseguire simultaneamen-

te molteplici misure di rete e di spettro. Grazie alla fun-

zionalità SCMM disponibile nella serie PNA-X, un singolo

insieme di collegamenti consente di misurare lo spettro

in ingresso, in uscita, la compressione del guadagno, la

figura di rumore, l’intermodulazione a due toni e molto

altro (Fig. 5).

Se su una traccia dell’analizzatore di reti appare un’ano-

malia, l’utente può posizionare un cursore su quel punto

ed attivare la funzione “marker to SA” per avviare la misu-

ra di spettro. Quest’ultima viene visualizzata in una nuova

finestra sullo schermo dell’analizzatore.

Un’ulteriore comodità consiste nella possibilità di impie-

gare il cursore per misure di rumore.

Misure con fixture e su wafer traggono beneficio della ca-

librazione e dal de-embedding dell’analizzatore vettoriale

di reti, che corregge gli errori nella risposta del ricevitore

e rimuove gli effetti dei cavi e delle fixture.

Ne consegue un miglioramento dell’accuratezza di test,

che rende possibile ottenere margini di collaudo più

stretti e specifiche sul dispositivo più stringenti. Nella

linea di produzione questa funzionalità rende possibile eli-

minare dal sistema di collaudo la matrice di commutazione

e l’analizzatore di spettro dedicato. Si tratta di un vantaggio

che permette di ridurre le dimensioni e la complessità dei

sistemi di collaudo.

Puntare all’eccellenza

Offrire la misura di spettro all’interno di un analizzatore di

reti non è un’idea nuova. Tuttavia, la tecnologia oggi disponi-

bile (convertitori, DSP e processori) rende possibile l’imple-

mentazione di queste misure a velocità realmente utili per

gli ingegneri che progettano e validano componenti avanzati.

Durante la caratterizzazione di dispositivi attivi, la giusta

miscela di velocità e prestazioni offre un vantaggio compe-

titivo. Nella ricerca e sviluppo tale combinazione offre un

livello di integrità della misura che aiuta gli sviluppatori ad

ottenere progetti migliori, partendo dalla comprensione dei

fenomeni osservati. Sulle linee di produzione tale approccio

assicura la velocità e la ripetibilità necessarie per trasfor-

mare eccellenti progetti in prodotti competitivi.

Grazie all’integrazione della funzionalità di analizzatore

di spettro nella serie PNA di Keysight, la capacità di

eseguire simultaneamente molteplici misure di rete e

di spettro consente ai tecnici di raggiungere una com-

prensione più approfondita del comportamento del di-

spositivi in prova e, in fin dei conti, raggiungere un’ec-

cellenza senza eguali nelle proprie misure e nei propri

progetti.

Per maggiori informazioni:

www.keysight.com/find/PNA-SA

Fig. 5 – Grazie alla funzione SCMM, questa schermata a nove tracce

mostra cinque misure di spettro insieme a quattro misure da VNA che

includono il guadagno di conversione (al centro), la compressione del

guadagno (in basso a sinistra) e la figura di rumore (in basso al centro)