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EDA/SW/T&M VNA
58 - ELETTRONICA OGGI 449 - OTTOBRE 2015
Integrare l’analisi di spettro in
un VNA per collaudi più veloci
Durante il progetto, lo sviluppo o il test di un nuovo
componente elettronico si utilizzano spesso un ana-
lizzatore di reti o un analizzatore di spettro per com-
prendere a fondo il comportamento del dispositivo in prova.
Un analizzatore vettoriale di reti (VNA) misura o calcola
quantità molto significative, come i parametri S, la compres-
sione del guadagno e la figura di rumore. Un analizzatore di
spettro offre la possibilità di raccogliere altre informazioni
utili per investigare la presenza di segnali armonici e spurie
non armoniche.
Nella fase di ricerca dei guasti, la necessità di connettere,
disconnettere e riconnettere frequentemente il dispositivo in
prova all’analizzatore di reti o di spettro causa una notevole
scomodità e perdita di tempo. Una soluzione è quella di in-
corporare entrambe le funzioni in un solo strumento.
Naturalmente, la possibilità di eseguire un’analisi spettrale di
base con un analizzatore di reti non è una novità, in quanto
già possibile, entro certi limiti, con le precedenti generazioni
di strumenti. Oggi, digitalizzatori più veloci, DSP e processori
di ultima generazione consentono di implementare funziona-
lità di analisi spettrale sufficientemente veloci per rendere
più veloci misure cruciali e spesso tediose come la ricerca
delle spurie.
Misure accurate in minor tempo
Nel corso degli ultimi decenni gli analizzatori di reti vettoriali
sono diventati significativamente più veloci in tutti i campi di mi-
sura: accoppiamento, guadagno/attenuazione, figura di rumore,
intermodulazione a due toni, perdite, guadagno di conversione,
compressione, ritardo e cosi via. Oggi i modelli più avanzati han-
no ridotto il tempo di collaudo per dispositivo di un fattore 10 nel-
le misure sull’elettronica per la difesa, di un fattore 6 nei conver-
titori per satelliti e di oltre un fattore 3 nelle misure di dispositivi
per infrastrutture di telecomunicazioni senza fili (Fig. 1).
Keysight si è posta l’obbiettivo di trovare unmodo nuovo emiglio-
re per offrire la funzione di analizzatore di spettro all’interno di
un analizzatore vettoriale di reti, senza alterarne l’architettura. Il
risultato è l’opzione 090 per la serie PNA di analizzatori vettoriali
di reti di Keysight (Fig. 2).
Questa funzionalità affronta il problema della ricerca delle spurie
in quattro modi. Prima di tutto, permette di effettuare una ricerca
rapida su intervalli di frequenza molto estesi, fino a 67 GHz, con
tempi di test da 10 a 500 volte più veloci rispetto a un analizza-
tore di spettro tradizionale, nel caso di spurie di media intensità.
In secondo luogo, l’analisi spettrale multicanale è sincronizzata
con i generatori di segnali interni, permettendo così una miglio-
re analisi dei rapporti causa-effetto. Terzo, offre contemporanea-
mente la misura dello spettro beneficiando della elevata accu-
ratezza raggiunta con la calibrazione dell’analizzatore vettoriale
di reti e delle tecniche di de-embedding (cioè di separazione del
contributo del banco di misura). Infine, è compatibile con la mo-
dalità “single-connection, multiple-measurement” (SCMM)
prevista negli analizzatori di reti a microonde della serie
PNA-X. Avendo a disposizione queste soluzioni, i progetti-
sti dispongono di nuovi modi per comprendere meglio le
prestazioni del loro dispositivo.
Hiro Maehara
Application Expert
Product Marketing engineer
Component Test Division
Aumentate di 500 volte la velocità nella
ricerca di spurie con l’analisi spettrale ad
alte prestazioni integrata in un analizzatore
vettoriale di reti
Fig. 1 – I moderni VNA offrono riduzioni significative dei tempi di test
in varie applicazioni