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eda/sw/T&M

VNA

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- ELETTRONICA OGGI 445 - MAGGIO 2015

Il costo dell‘apparecchiatura di test.

Il costo dei pezzi di ricambio.

Il costo del personale preposto al funzionamento e alla manu-

tenzione dell‘apparecchiatura.

Il costo dello spazio occupato all‘interno dello stabilimento.

Il costo dei tempi di inattività (down time).

Poiché il costo per singola unità prodotta rappresenta l‘elemento

base per confronto, la velocità di test per stazione è il principale

parametro da tenere in considerazione.

Per quanto riguarda altre categorie di prodotto, i costruttori di

strumenti di collaudo hanno cercato di soddisfare alla richiesta

di velocità e di basso costo sviluppando strumenti di test „in-

telligenti“ che possono essere controllati tramite computer. Tra

i numerosi esempi di strumenti modulari si possono segnalare

generatori di segnali vettoriali (VSG – Vector Signal Generator)

e analizzatori di segnali vettoriali (VSA – Vector Signal Analyser)

e gli associate alimentatori in DC. Strumenti modulari di questo

tipo possono essere ospitati in rack compatti e le loro caratte-

ristiche e funzionalità sono configurate in modo da trasferire i

risultati in sofisticati software di produzione.

Il VNA, dal canto suo, non è mai stato disponibile in un formato

modulare che permette di ridurre sia gli spazi sia i costi. Sen-

za dimenticare che l‘uso

di VNA da banco in un

ambiente di produzione

controllato tramite com-

puter e caratterizzato da

elevato throughput com-

porta numerosi svantaggi

in termini di:

Costo

– Non si tratta

del solo costo di acquis-

to, che per strumenti da

banco corredati da tutte

le opzioni è comunque

elevato, ma anche dei

costi che è necessario

sostenere per far funzionare ed eseguire la manutenzione di si-

stemi legacy.

Obsolescenza

– Sebbene uno strumento di costo elevato può

rimanere in esercizio per molti anni, il guasto di un singolo com-

ponente in uno strumento datato, la riparazione o la sostituzione

possono risultare operazioni lunghe e costose.

Scarsa flessibilità

– Alcuni sistemi di test di grandi dimensio-

ni possono evidenziare limiti in termini di flessibilità: essi infatti

sono in grado di soddisfare una specifica esigenza o risultano

adatti solo per una determinata apparecchiatura.

Spazio

– Uno strumento da banco è un‘apparecchiatura di

ampie dimensioni.

Strumenti come i VSG e i VSA hanno dimostrato che all‘interno

di uno stabilimento è possibile aumentare la produttività, ridurre

l‘occupazione di spazio e diminuire i costi sfruttando la poten-

za di elaborazione del personal computer. Ciò può essere vero

anche per i VNA, senza dimenticare il fatto che la possibilità di

controllare questi strumenti mediante un software ospitato a

bordo di un PC assicura la flessibilità necessaria per variare i

parametri di test senza apportare alcuna modifica all‘hardware.

Ora, per la prima volta, è disponibile un VNA di concezione mo-

dulare ottimizzato per l‘uso non solo in produzione,ma anche nei

Fig. 2 – Tutti i modelli

della serie ShockLine

condividono la mede-

sima GUI

Tabella 1 – Valori delle soglie di misura tipici per le diverse tipologie di componenti passivi

Typical requirement specification

DUT-Type

Return Loss

Attenuation

Isolation

TD

Micro-coaxial RF connectors

14<RL<18 dB

n.a.

n.a.

Required

(5)

Antenna

8<RL<18 dB

n.a.

>30 dB

(1)

Cables & Connectors

14<RL<30 dB

0,2<IL<3 dB

>20 dB

(2)

RF Switch

18<RL<26 dB

0,5<IL<0,75 dB

>30 dB

(3)

Filter/Duplexer/Diplexer

18<RL<20 dB

0,5<IL<2 dB

>30 dB

(4)

(1) e.g. isolation between cross-polar elements

(2) e.g. isolation between different cable cores

(3) e.g. relay port-to-port isolation

(4) e.g. out of band isolation

(5)Time Domain (TD) required for impedance mismatch location and/or tuning