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eda/sw/T&M
VNA
67
- ELETTRONICA OGGI 445 - MAGGIO 2015
•
Il costo dell‘apparecchiatura di test.
•
Il costo dei pezzi di ricambio.
•
Il costo del personale preposto al funzionamento e alla manu-
tenzione dell‘apparecchiatura.
•
Il costo dello spazio occupato all‘interno dello stabilimento.
•
Il costo dei tempi di inattività (down time).
Poiché il costo per singola unità prodotta rappresenta l‘elemento
base per confronto, la velocità di test per stazione è il principale
parametro da tenere in considerazione.
Per quanto riguarda altre categorie di prodotto, i costruttori di
strumenti di collaudo hanno cercato di soddisfare alla richiesta
di velocità e di basso costo sviluppando strumenti di test „in-
telligenti“ che possono essere controllati tramite computer. Tra
i numerosi esempi di strumenti modulari si possono segnalare
generatori di segnali vettoriali (VSG – Vector Signal Generator)
e analizzatori di segnali vettoriali (VSA – Vector Signal Analyser)
e gli associate alimentatori in DC. Strumenti modulari di questo
tipo possono essere ospitati in rack compatti e le loro caratte-
ristiche e funzionalità sono configurate in modo da trasferire i
risultati in sofisticati software di produzione.
Il VNA, dal canto suo, non è mai stato disponibile in un formato
modulare che permette di ridurre sia gli spazi sia i costi. Sen-
za dimenticare che l‘uso
di VNA da banco in un
ambiente di produzione
controllato tramite com-
puter e caratterizzato da
elevato throughput com-
porta numerosi svantaggi
in termini di:
•
Costo
– Non si tratta
del solo costo di acquis-
to, che per strumenti da
banco corredati da tutte
le opzioni è comunque
elevato, ma anche dei
costi che è necessario
sostenere per far funzionare ed eseguire la manutenzione di si-
stemi legacy.
•
Obsolescenza
– Sebbene uno strumento di costo elevato può
rimanere in esercizio per molti anni, il guasto di un singolo com-
ponente in uno strumento datato, la riparazione o la sostituzione
possono risultare operazioni lunghe e costose.
•
Scarsa flessibilità
– Alcuni sistemi di test di grandi dimensio-
ni possono evidenziare limiti in termini di flessibilità: essi infatti
sono in grado di soddisfare una specifica esigenza o risultano
adatti solo per una determinata apparecchiatura.
•
Spazio
– Uno strumento da banco è un‘apparecchiatura di
ampie dimensioni.
Strumenti come i VSG e i VSA hanno dimostrato che all‘interno
di uno stabilimento è possibile aumentare la produttività, ridurre
l‘occupazione di spazio e diminuire i costi sfruttando la poten-
za di elaborazione del personal computer. Ciò può essere vero
anche per i VNA, senza dimenticare il fatto che la possibilità di
controllare questi strumenti mediante un software ospitato a
bordo di un PC assicura la flessibilità necessaria per variare i
parametri di test senza apportare alcuna modifica all‘hardware.
Ora, per la prima volta, è disponibile un VNA di concezione mo-
dulare ottimizzato per l‘uso non solo in produzione,ma anche nei
Fig. 2 – Tutti i modelli
della serie ShockLine
condividono la mede-
sima GUI
Tabella 1 – Valori delle soglie di misura tipici per le diverse tipologie di componenti passivi
Typical requirement specification
DUT-Type
Return Loss
Attenuation
Isolation
TD
Micro-coaxial RF connectors
14<RL<18 dB
n.a.
n.a.
Required
(5)
Antenna
8<RL<18 dB
n.a.
>30 dB
(1)
Cables & Connectors
14<RL<30 dB
0,2<IL<3 dB
>20 dB
(2)
RF Switch
18<RL<26 dB
0,5<IL<0,75 dB
>30 dB
(3)
Filter/Duplexer/Diplexer
18<RL<20 dB
0,5<IL<2 dB
>30 dB
(4)
(1) e.g. isolation between cross-polar elements
(2) e.g. isolation between different cable cores
(3) e.g. relay port-to-port isolation
(4) e.g. out of band isolation
(5)Time Domain (TD) required for impedance mismatch location and/or tuning