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DSO
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- ELETTRONICA OGGI 446 - GIUGNO 2015
Misure su domini multipli
con un oscilloscopio digitale
I
sistemi embedded più complessi hanno spesso segna-
li che devono essere monitorati sia nel dominio del
tempo sia nel dominio della frequenza, ad esempio i
segnali digitali e analogici di una banda base RF sono
interdipendenti fra loro anche se spesso questo sfugge ad
un’analisi con la strumentazione tradizionale.
Di conseguenza, lavori come la verifica dell’operatività a
radiofrequenza di un microcontrollore, il collaudo dei bus
seriali a bassa velocità, la sincronizzazione delle tempo-
rizzazioni più critiche e la valutazione delle interferenze
EMI fra i segnali RF e i segnali digitali possono rallentare
sensibilmente il ciclo di sviluppo dei prodotti progettati e
la realizzazione dei prototipi. Un buon oscilloscopio digi-
tale può essere lo strumento adatto per risolvere questo
tipo di problemi anche se molti sviluppatori pensano che
occorrano invece strumenti più specifici. Quest’ultimo
criterio può forse consentire di effettuare il lavoro corret-
tamente ma richiede buone competenze e molto tempo da
parte di chi lo svolge.
Per contro, se si riuniscono tutte le funzionalità necessa-
rie e sufficienti in un unico strumento capace di analizzare
e confrontare i segnali analogici, digitali e a radiofre-
quenza, allora è possibile ridurre il tempo delle verifiche
e abbassare il livello delle competenze da impiegare per
realizzare i progetti. Dunque, utilizzando un unico oscillo-
scopio con più canali analogici per entrambi i domini del
tempo e della frequenza e più canali digitali per le analisi
sulle funzioni logiche e sui protocolli si può eseguire il
debug su una serie diversificata di segnali e visualizzare
i fattori più importanti che influiscono al loro corretto
comportamento.
Spesso per i nuovi progetti l’analisi nel dominio della fre-
quenza è determinante per il debug, ma richiede neces-
sariamente una perfetta sincronizzazione con l’analisi nel
dominio del tempo, i canali logici ed i segnali digitali. Inol-
tre, uno scenario visualizzato nel dominio della frequenza
può essere utile solo se la velocità di analisi è sufficien-
temente elevata da permettere un rapido aggiornamento
delle immagini che consenta di osservare anche le carat-
teristiche più sfuggenti dei segnali.
È anche indispensabile uno strumento con una buona sen-
sibilità sia in frequenza sia nel tempo per poter catturare
i segnali che dipendono da piccoli eventi proprio come le
EMI o altri tipi di interferenze. L’accuratezza nel tempo e in
frequenza della funzione di trigger è inoltre fondamentale
per catturare le informazioni più significative per il debug
dei sistemi complessi dove convivono molti tipi di segnali.
Dave Rishavy
Product manager oscilloscopes
Tomas Berghall
Industry segment manager
Rohde & Schwarz
Un oscilloscopio in tempo reale può essere
lo strumento giusto per risolvere le problematiche,
tipiche dei sistemi embedded più complessi,
di test e debug che necessitano di analisi sincrone
nel dominio del tempo e della frequenza eseguibili
ad alta velocità e con un’elevata sensibilità
di acquisizione
Fig. 1 – Screenshot di un oscilloscopio digitale che visualizza le FFT ese-
guite in sincronia su domini multipli