64 / 92
EMBEDDED
66 • NOVEMBRE • 2017
64
HARDWARE
|
INDUSTRIAL FLASH
N
Á
!
7<
!
>
!
À
!
-
!
Data Care Management
per applicazioni industriali
Se la durata di vita delle memorie
flash è insufficiente la causa può
risiedere nel firmware
Ulrich Brandt
Direttore marketing
Swissbit
Fig. 1 – Una cella usurata dove gli elettroni accu-
mulati nello strato di ossido del tunnel causano il
graduale cambiamento della tensione di soglia. Le
microrotture nel tunnel di ossido inducono per-
corsi di corrente dispersa che permettono alla
carica di defluire. La lettura degli errori aumenta
al punto che un blocco può diventare difettoso, o
“bad block”, e deve essere cancellato
¦ Y
!
-
Á
+
¦
9
Á
+
!
+
-
-
À
-
!
[
!
+
+
+
-
9+
-
À
!
À "
"
+
-
À
-
Á
[
-
Á
Logoramento graduale
9
Á U
-
-
-
!
!
<
-