Una soluzione ottimizzata per il test delle memorie MCP - Elettronica Plus

Una soluzione ottimizzata per il test delle memorie MCP

Dalla rivista:
Elettronica Oggi

 
Pubblicato il 1 luglio 2006

Grazie all’impiego di un circuito Asic ad alte prestazioni, Agilent è riuscita a ridurre in maniera significativa i costi di collaudo delle memorie ospitate nei package multichip (MCP) presenti in numerosi dispositivi mobile

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