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POWER 8 - giugno 2015

X

Power

di test con un generatore di corrente

costante per pilotare il gate. Si tratta

di un metodo innovativo che combi-

na un sofisticato circuito di pilotag-

gio del gate e che controlla accura-

tamente la corrente con sistemi di

generazione e lettura simultanea dei

segnali a bassa tensione e alta corren-

te, oppure ad alta tensione e bassa

corrente.

Questa combinazione unica consen-

te di ottenere una caratterizzazione

completa della carica di gate, del

tempo di commutazione e quindi il

calcolo delle rispettive perdite.

La tabella seguente mostra l’esempio

di caratterizzazione di un IGBT e di

un MOSFET a super giunzione misu-

randone i parametri Ron, Qd, Rg e

Crss.

Il MOSFET a super giunzione mostra

una minore perdita di commutazione

rispetto all’IGBT a frequenze supe-

riori a 20 kHz per misure eseguite in

condizioni simili.

Analisi dei dispostivi con lo strumento

B1506A di Keysight Technologies

Il Power Device Analyzer B1506A

rappresenta il primo strumento da

banco sul mercato con la capacità

di rappresentare le curve Qg fino a

1500A/3 kV e da 1 nC a 100 μC.

Oltre alla caratteristica I/V, l’analiz-

zatore B1506A può misurare i para-

metri parassiti dei dispositivi, come

Rg, Ciss, Crss, Coss, Cgs e Cds.

Di conseguenza, può validare un di-

spositivo di potenza da due diverse

prospettive. Inoltre, dalle curve Qg,

può calcolare i tempi di commutazio-

ne (td, tr, tf), le perdite di potenza

(di pilotaggio, commutazione e con-

duzione) e altri parametri. Infine,

permette di misurare le curve carat-

teristiche in funzione della tempera-

tura nel range -50 °C a +250 °C.

L’analizzatore B1506A di Keysight

Technologies può valutare tutti i pa-

rametri necessari alla progettazione

del circuito di potenza su di un este-

so intervallo di condizioni operative.

Tabella 2 – Intervallo di misura dei parametri della curva Qg

dello strumento B1506A

Parametro

misurato-controllato

Intervallo

Risoluzione minima

Qg

da 1 nC a 100 μC

10 pC

Vdd

da +/- 0 V a 3000 V

100 μV

Massima Id

da +/- 1 A a 1100 A

2mA

Ig

da +/- 1 nA a 1 A

10 pA

Vg

+/- 30V

40 μV

Tempo di accensione

50 μs – 950 μs

2 μs

Tensione di comando Vg

+/- 30 V

40 μV

Tabella 1 – Confronto tra IGBT e MOS in termini

di perdite di commutazione

Condizioni

VDS

480V

ID

20°

Vgs

da 0 a 10V

Frequenza di commutazione

10kHz / 20kHz

Duty Cycle Ton

10%

Resistenza serie al gate

27Ω

Tipo di dispositivo

IGBT

MOSFET a super giunzione

IRG4PC40WPBF

FMW20N60S1HF

Valori misurati

Qg

63 nC

42 nC

Qgd

36 nC

22 nC

Qsw (=Qgd1)

12.2 nC

10.0 nC

Rg

0.7 Ω

3.5 Ω

Vce_sat/ Rds_on @ 20A

1.95 V

183 mΩ

Valori calcolati

Td(on)

39 ns

15 ns

Tr

47 ns

28 ns

Tf

28 ns

36 ns

Td(off)

162 ns

170 ns

P(pilotaggio)

6.3 mW

4.2 mW

P(commutazione) con cariclo L

9.0 W /18.1 W

5.8 W /11.5 W

P(conduzione)

3.9 W

7.3 W