Teledyne LeCroy espande le capacità dei suoi oscilloscopi - Elettronica Plus

Teledyne LeCroy espande le capacità dei suoi oscilloscopi

Pubblicato il 5 febbraio 2016

Teledyne LeCroy, con l’introduzione della soluzione analizzatore digitale high-speed HDA125,  espande oggi in modo significativo le capacità dei suoi oscilloscopi.  L’analizzatore digitale HDA125 è un sistema capace di acquisire 18 canali di dati digitali a 12.5 GS/s. L’analizzatore, aggiunto agli oscilloscopi mediante l’interfaccia LBUS, offre l’architettuta di soluzioni mixed-signal più flessibile e con le migliori performance disponibili. Viene annunciato anche oggi il sistema di sonde QuickLink , a basso costo, che offre probe tips ad alta fedeltà che possono essere utilizzati sia con l’analizzatore HDA125 che con le sonde Teledyne LeCroy WaveLink usando il nuovo adattatore Dxx30-QL QuicLink.

HDA125 Analizzatore Digitale High-speed

La soluzione  HDA125 campiona  contemporaneamente 18  segnali in ingresso con intervalli di 80 ps  (12.5 GS/s) per una accurata caratterizzazione dei segnali più veloci. Comunque, la frequenza di campionamento è solo metà della storia: il testing di sistemi embedded ad alta velocità comporta spesso affrontare condizioni critiche dovute all’ampiezza dei segnali . L’Analizzatore Digitale High-speed risponde a queste svide con un leadset a 3-GHz, un probe loading bassissimo, ed una sensibilità unica nel settore (150 mV minimum signal swing). Il sistema garantisce l’interpretazione più precisa dei segnali digitali con una capacità unica di regolazione della isteresi, ed una accuratezza della soglia tre volte superiore alle soluzioni Mixed-signal presenti in commercio.

QuickLink Probing System

Il sistema sonda QuickLink è stato progettato da zero per essere compatibile sia con l’Analizzatore Digitale  HDA125 che con le sonde differenziali analogiche Teledyne LeCroy della serie  WaveLink. Questa compatibilità consente a un dispositivo sotto test (DUT) di essere dotato di tips QuickLink Solder-In (QL-SI), in ogni punto desiderato di test, consentendo lo scambio delle connessioni tra il sistema di acquisizione analogico e quello digitale a seconda delle diverse necessità di test.



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