Pickering amplia l'offerta per test funzionali e HIL - Elettronica Plus

Pickering amplia l’offerta per test funzionali e HIL

Pubblicato il 22 giugno 2026
Pickering

Pickering Interfaces ha realizzato tre nuovi moduli PXI/PXIe con uscita analogica, ampliando il suo portfolio di soluzioni per la generazione di segnali e la simulazione di sensori per applicazioni funzionali e hardware-in-the-loop (HIL).

I nuovi dispositivi offrono generazione di forme d’onda multicanale, uscite di precisione da convertitori digitale-analogico (DAC) e simulazione di termocoppie ad alta densità, consentendo di simulare i controller embedded con condizioni analogiche, di sensori e di forme d’onda realistiche da sistemi di test compatti e a piattaforma aperta.

Pickering precisa che questi nuovi moduli offrono una simulazione del segnale reale, non un’approssimazione. Ogni modulo è progettato per replicare con precisione il comportamento di sensori o segnali reali per una specifica attività di simulazione (termocoppia, convertitore digitale-analogico o forma d’onda arbitraria), consentendo test automatizzati più realistici e affidabili rispetto a sorgenti di tensione generiche o generatori di forme d’onda arbitrarie.

I nuovi moduli sono stati progettati per un’elevata densità di canali in un singolo slot PXI/PXIe, un’ampia compatibilità con chassis e un supporto completo per i drive.

Questi componenti aiutano a realizzare sistemi di test automatizzati, riducendo al contempo l’ingombro nei rack, la complessità del sistema e il rischio di obsolescenza a lungo termine.

I moduli DAC 41-770 PXI e 43-770 PXIe forniscono fino a quattro canali completamente isolati in un singolo slot PXI/PXIe 3U. Ciascun canale è programmabile indipendentemente su diverse gamme di tensione e corrente, con uscite di tensione fino a ±40 V e uscite di corrente fino a ±20 mA. I moduli possono anche simulare condizioni di circuito aperto, consentendo di replicare modalità di guasto reali, come cablaggi difettosi o guasti ai sensori, per i test di iniezione di guasti. Una funzione di interblocco hardware fornisce una protezione aggiuntiva per il dispositivo in prova e per l’intero sistema di test.

I generatori di forme d’onda multicanale 41-625 PXI e 43-625 PXIe offrono fino a 32 canali di uscita indipendenti in un singolo slot PXI/PXIe da 3U. I moduli supportano la generazione di forme d’onda da CC a 300 kHz, risultando quindi utilizzabili per simulare segnali provenienti da accelerometri reali e altre condizioni di stimolazione multicanale.

Sono disponibili driver per sistemi operativi Windows e Linux, con un’API supportata in diversi linguaggi di programmazione, tra cui C, Python, C#, Matlab, Simulink e LabView.



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