51
military test |
hardware
EMBEDDED
58 • NOVEMBRE • 2015
di sistemi di comunicazione satellitari, front-end
ricetrasmettitori a radiofrequenza e I/O a segna-
li misti analogici e digitali Textron ha realizza-
to nel suo centro ricerche di Austin, in Texas, la
famiglia WaveCore con banda di lavoro che ar-
riva fino a 40 GHz. Questa piattaforma è dispo-
nibile anche per i test automatizzati di prodotti
non militari e permette di collaudare in linea di
produzione amplificatori, mixer, convertitori e
sottosistemi a radiofrequenza tipici delle comu-
nicazioni wireless. In dotazione ci sono numerosi
moduli di test compresi anche moduli specifici
per l’analisi dei parametri S su onde continue
o impulsate e per la verifica della risposta in
frequenza e della linearità in fase dei sistemi. I
moduli sono tutti dotati di preziosi strumenti di
auto correzione in tempo reale della calibrazione
ottimale e sono componibili in base alle esigenze
applicative per formare stazioni di test automa-
tizzate con prestazioni custom.
ATE VXI
Northrop Grummansviluppa e produce sistemi
di test completi per il settore militare USA ca-
ratterizzati dalle più severe caratteristiche di
sicurezza fra cui anche sistemi automatizzati
di test ATE per la verifica delle prestazioni di-
rettamente nelle linee di assemblaggio. Nuovo
è il Next Generation Automatic Test System
(NGATS) AN/TSM-217 concepito come IFTE (In-
tegrated Family of Test Equipment) autorizzato
dall’esercito USA e perciò comprensivo di tutti i
test già adottati per la verifica dei sistemi mili-
tari ma con in più la possibilità di definire e con-
figurare algoritmi di test specifici per i prodotti
embedded industriali. La piattaforma è VXI e
consente di sostituire e aggiornare facilmente le
schede operative per riconfigurare il range di ac-
quisizione e adattarlo alle esigenze applicative.
La dotazione è generosa e consente di testare i
bus MIL-STD-1553 A/B e tutti i bus seriali più
diffusi compreso CAN, oltre che misurare e va-
lutare voltaggi, correnti, resistenze, frequenze e
potenze di picco. Si possono eseguire test elettri-
ci statici su 128 I/O o 64 pin bidirezionali oppure
test dinamici su 192 pin con range logico fra ±30
o ±10V e velocità di acquisizione fino a 50 Mbit/s.
Per i test ottici c’è un modulo in opzione che con-
sente di acquisire e analizzare segnali laser con
energia da 50 µJ/impulso a 300 mJ/impulso e ri-
soluzione nell’infrarosso o nel visibile.
ATEasy
Marvin Test Solutionsè specializzata nello svilup-
po e nella fabbricazione di attrezzature automatiz-
zate per i test sui sistemi elettronici a bordo degli
aerei militari statunitensi. Solo negli ultimi anni
ha deciso di ampliare i settori di riferimento dei
suoi ATE caratterizzati dall’affidabilità, dall’asso-
luta precisione ma anche dalla semplicità d’uso e
oggi fornisce tool adatti anche per i test sull’elettro-
nica a bordo degli aerei commerciali, delle navi, dei
treni e anche delle macchine utensili delle catene di
montaggio industriali. Specificatamente per i test
automatizzati sui sistemi elettronici embedded, la
Fig. 2 – La piattaforma Northrop Grumman
NGATS AN/TSM-271 consente la verifica in
linea delle schede embedded industriali in tutte
le loro caratteristiche elettriche e ottiche
Fig. 3 – Il Test Executive And Development
Studio ATEasy di Marvin Test Solutions ha
una piattaforma aperta che consente di defini-
re procedure di test e acquisizione dati scala-
bili e riutilizzabili