Agilent Technologies: Medalist i1000D, tester in-circuit - Elettronica Plus

Agilent Technologies: Medalist i1000D, tester in-circuit

Pubblicato il 4 maggio 2009

Progettato per costruttori sensibili all’aspetto costi che ricerchino una soluzione provvista di possibilità sia digitali che analogiche, affinché possano affrontare le sfide presentate dagli odierni gruppi di schede a circuito stampato più complessi, offre: programmabilità per pin; collaudo basato su librerie Pcf/Vcl digitali; possibilità di boundary scan native; programmazione seriale I2C/Spi; semplice attrezzatura di test long wired a basso costo; l’ultima suite per prove senza vettori Powered Vtep v2.0 di Agilent stessa; interfaccia grafica utente facile da utilizzare e flessibile.

Queste caratteristiche rappresentano un’eccellente opportunità per i clienti che desiderino disporre di migliore copertura di test senza per questo incrementare il costo del test stesso.