Agilent: soluzione di test PXI multi-canale LTE/LTE-Advanced

Agilent ha annunciato una soluzione di test PXI basato su LTE/LTE-Advanced, che accelera l’installazione e la configurazioni di sistemi multi-canale, permettendo agli ingegneri di acquisire una comprensione più profonda circa il design MIMO multiplexing spaziale.

Progettazione e caratterizzazione di componenti e sottosistemi RF per stazioni radio base, microcelle, picocelle, ripetitori e dispositivi mobili stanno diventando sempre più complessi, così come il design di sistemi multi-antenna.

La nuova soluzione di test di Agilent fornisce gli strumenti per generare forme d’onda complesse LTE/LTE-A multi-channel/MIMO e analizzare contemporaneamente più canali nel dominio di frequenza e modulazione. L’interfaccia utente grafica, inoltre, facile da usare, abbrevia il tempo necessario per impostare una configurazione di test.

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