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Advantest: modulo di acquisizione di immagini per la piattaforma di test per semiconduttori T2000 ISS
Advantest ha presentato CMOS T2000 3GICAP, un modulo di acquisizione...
Advantest: nasce Cloud Testing Service
Advantest ha costituito una nuova società del gruppo, per gestire...
Advantest: sistema per test di memorie ad alta velocità
Advantest ha introdotto T5511, un sistema di test di nuova...
Soluzione di test efficace per componenti di potenza integrati
Da alcune recenti indagini è emerso che nei prossimi anni si registrerà una crescita...
Advantest: primi campioni di relè Mems
I nuovi componenti sono stati sviluppati per l’impiego in apparecchiature per il test dei...

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Maturità per la tecnologia High NA Euv di Asml
La tecnologia High NA Euv di Asml ha raggiunto la fase di maturità consentendo...
Collaborazione tra Swissbit e Nexperia
Swissbit e Nexperia hanno comunicato la loro collaborazione finalizzata allo sviluppo di piattaforme sicure...
Imec e Diraq avanzano nei qubit
Imec e Diraq hanno dimostrato il funzionamento e la lettura coerente di un array...

Melexis presenta un nuovo driver per ventole
Melexis ha ampliato la famiglia di driver per ventole di raffreddamento MLX90412 con un...
Driver radiation-hardened da Infineon
RIC70115 è un driver per Hemt (High-Electron Mobility Transistor) di Infineon. Peculiarità di questo...
Emerson presenta una nuova architettura di test
Emerson ha sviluppato una nuova architettura di test modulare utilizzabile per i veicoli software-defined....