Advantest: modulo di acquisizione di immagini per la piattaforma di test per semiconduttori T2000 ISS - Elettronica Plus

Advantest: modulo di acquisizione di immagini per la piattaforma di test per semiconduttori T2000 ISS

Dalla rivista:
Elettronica Oggi

 
Pubblicato il 8 febbraio 2013

Advantest ha presentato CMOS T2000 3GICAP, un modulo di acquisizione di immagini ad alta velocità, utilizzabile nel settore dei circuiti integrati per testare in modo economicamente vantaggioso i chip con interfaccia D-PHY e M-PHY ad alta frequenza e bassa potenza.

Il modulo di acquisizione di immagini è integrato nel sistema T2000 ISS della stessa Advantest, una delle principali piattaforme di test per un’ampia gamma di dispositivi SoC (System-on-Chip).

Grazie all’elevata velocità di acquisizione delle immagini fino a 3 Gbps, il modulo di test 3GICAP consente di eseguire il test ad alto parallelismo dei sensori di immagine CMOS, che vengono impiegati in numerose applicazioni di elettronica di consumo, tra cui cellulari, fotocamere digitali, videocamere e sistemi di visione per auto.

Inoltre il modulo è in grado di testare simultaneamente fino a 64 dispositivi in parallelo, riducendo significativamente i costi del collaudo. Oltre a migliorare le rese eseguendo il test ad alta velocità in produzione, il modulo può ridurre il tempo richiesto per il debug e la qualifica del primo silicio durante lo sviluppo di nuovi dispositivi.
 

A cura della redazione



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