EON_616

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EONEWS n. 616 - FEBBRAIO 2018
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all’avanguardia (2E-27 A2 /
Hz). Inoltre, è stato aggiornato
per misurare la densità del ru-
more fino a 40 MHz.
“Sono lieto che il sistema di
misura 1/f di Keysight e più
in generale il portafoglio di
dispositivi di Keysight soddi-
sfi le esigenze dei principali
centri di ricerca in Europa”,
dice Thierry Locquette, re-
sponsabile vendite EMEAI
di Keysight EDA. “La com-
binazione di una soluzione
all’avanguardia con un forte
supporto locale è un signifi-
cativo elemento di differen-
ziazione”. Misure di rumore a
bassa frequenza: quali sono
le caratteristiche chiave e i
vantaggi ? Collaborazione si-
gnifica maggiori funzionalità e
flessibilità per i ricercatori che
hanno bisogno di misurare
con precisione il rumore nei
nuovi dispositivi elettronici;
il rumore a bassa frequenza
ha un impatto significativo
sulle prestazioni di dispositivi
elettronici come sensori e me-
morie; la nuova funzionalità
avanzata dell’analizzatore di
rumore a bassa frequenza (A-
LFNA) di Keysight consente
ai progettisti di trasformare le
misurazioni del rumore a bas-
sa frequenza in modelli mate-
matici di nuovi dispositivi.
controllare l’intero sistema di
misura senza sforzo”, afferma
Werner Muth, consulente per
lo sviluppo dei dispositivi per
il Fraunhofer EMFT a Monaco
di Baviera, Germania. “Il siste-
ma è in grado di elaborare in
modo matematico i nostri risul-
tati grezzi in modo automati-
co, consentendoci di ottenere
rapidamente informazioni sul
miglioramento della figura di
rumore dei nostri dispositivi di
nuova concezione.”
“LAAS-CNRS ha un’ampia e
vasta esperienza nel campo
delle misure di rumore ad alta
e bassa frequenza, con due
configurazioni sperimentali a
bassa frequenza attualmen-
te disponibili a 400 mA max e
1 Hz – 1 MHz, nonché robusti
software per l’estrazione dello
spettro2 “, dice Jean-Guy Tar-
tarin, senior researcher presso
il LAAS-CNRS. “Con la nuova
soluzione di analisi proposta
da Keysight nell’ambito del
Low-Frequency Noise Europe-
an Center, sarà ora possibile
affrontare le sfide emergenti,
Il rumore è uno dei principali
fattori limitanti nei dispositivi
elettronici, incluse le parti sen-
sibili come sensori e memorie.
Di conseguenza, la capacità di
monitorare il rumore utilizzan-
do un approccio statistico su di
un numero elevato di campioni
e dispositivi diversi è più criti-
ca che mai. “Dall’introduzione
dell’analizzatore avanzato di
rumore a bassa frequenza,
Keysight si è attivamente im-
pegnata con centri di ricerca
di fama mondiale nel campo
delle misurazioni del rumore”,
afferma Cédric Pujol, EEsof
EDA device modeling busi-
ness development manager
di Keysight. “Queste collabo-
razioni hanno spinto i nostri
sviluppi in un’ampia gamma
di applicazioni, consentendo
all’analizzatore di aumentare la
sua versatilità nelle misurazio-
ni del rumore flicker (1/f)e del
rumore burst (random Tele-
graph noise) e hanno contribu-
ito a rafforzare l’uso dell’analiz-
zatore per i dispositivi utilizzati
nell’elettronica industriale e nel
5G e Dispositivi IoT”.
Nuove soluzioni
La pietra miliare della colla-
borazione di Keysight con i
centri di ricerca, come l’uni-
versità svedese di Chalmers ,
Fraunhofer EMFT in Germa-
nia, IMEC in Belgio e i LAAS-
CNRS in Francia, è l’aggiunta
del software WaferPro Ex-
press, un framework di misu-
razioni che beneficia dell’espe-
rienza pluriennale di Keysight
nella modellazione di dispositi-
vi. Keysight A-LFNA offre ora
ai progettisti la flessibilità di
trasformare le loro misure del
rumore a bassa frequenza in
modelli matematici. “Control-
lando l’A-LFNA con WaferPro
Express, abbiamo migliorato
significativamente la nostra
capacità di impostare sequen-
ze per caratterizzare i nostri
dispositivi dal rumore estrema-
mente basso, ottenendo allo
stesso tempo la flessibilità di
come il numero di campioni
e il punto di riposo sotto test.
Utilizzando una soluzione au-
tomatica risparmieremo tempo
e misurazioni”. Anche i ricerca-
tori dell’Università di Chalmers
hanno utilizzato la nuova solu-
zione A-LFNA con successo.
L’analizzatore ha permesso di
migliorare significativamente
il throughput delle loro misu-
razioni di rumore flicker di alta
qualità. Altrettanto vantaggiosi
per i ricercatori sono la capa-
cità ad alta potenza e il basso
rumore dell’A-LFNA, nonché
la capacità di passare in modo
flessibile tra il funzionamento
dell’amplificatore in modalità
tensione e corrente, una capa-
cità che consente la caratteriz-
zazione tipi di dispositivi molto
diversi.
Misure di rumore
Altri risultati derivanti dal-
la collaborazione in corso
includono un’estensione
dell’A-LFNA, per consentire
misurazioni del rumore su
sensori CMOS fino a frequen-
ze ultra-basse (0,030 Hz) e
su dispositivi di potenza con
una tensione di polarizzazio-
ne da 200V. A supporto delle
tecnologie bulk silicon e silicio
su isolanti (SOI - silicon on
insulator), l’A-LFNA ora misu-
ra anche un rumore di fondo
L’arte di misurare i rumori L AURA GALLI
Keysight collabora con i principali
centri di ricerca per offrire
soluzioni che consentono di
misurare con precisione il rumore
nei nuovi dispositivi elettronici
da utilizzare in IoT, 5G
Keysight A-
LFNA offre ora
ai progettisti
la flessibilità di
trasformare le
loro misure del
rumore a bassa
frequenza in mo-
delli matematici
La pietra
miliare della
collaborazione
di Keysight con
i centri di ricerca
è l’aggiunta
del software
WaferPro
Express
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