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Advantest: sistema per test di memorie ad alta velocità

Dalla rivista:
Elettronica Oggi

 
Pubblicato il 28 giugno 2012

Advantest ha introdotto T5511, un sistema di test di nuova generazione per memorie DRAM ad alta velocità.

Con una velocità di test massima pari a 8Gbps, T5511 è attualmente il tester di memorie più rapido al mondo, compatibile con i dispositivi GDDR5-SDRAM ultra-veloci con capacità extra. Inoltre, considerato che tutti i pin di test del sistema supportano velocità di 8 Gbps, è in grado di mantenere il parallelismo durante il funzionamento ad alta velocità.

Essenziale per il test dei nuovi dispositivi DDR4-SDRAM e GDDR5-SDRAM, T5511 integra a livello hardware la funzionalità di training di clock: questa permette miglioramenti di produttività difficilmente realizzabili con la gestione di tale funzione a livello software.

T5511 offre anche una funzione hardware di generatore di codice CRC, necessaria per il test degli avanzati dispositivi DDR4-SDRAM e GDDR5-SDRAM. L’hardware genera automaticamente i codici CRC, riducendo il carico di lavoro dell’operatore e garantendo una creazione più semplice dei programmi di test.

T5511 utilizza il sistema operativo per tester Future Suite di Advantest, che permette agli operatori di accedere a una vasta libreria di dati di programmi creata per i sistemi di test della serie T55xx.

Le configurazioni di sistema partono da 384 pin per utilizzo in ambito di R&S fino a un massimo di 6.144 pin per la produzione di massa. La flessibilità di configurazione (dal laboratorio alla produzione) permette agli utilizzatori di ridurre al minimo l’investimento di capitale, conseguendo al contempo la massima efficienza di prova.

A cura della redazione

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