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Yamaichi: sistema di test per modulo COM Express

Pubblicato il 11 aprile 2013

Il sistema di test per il modulo COM Express si distingue per le seguenti caratteristiche:
• test funzionale dei moduli eseguiti sulla scheda madre convenzionale;
• contatto affidabile tra il modulo e il probe pin;
• robustezza della struttura del sistema di test.

In numerosi siti di produzione, la scheda madre è usata per testare i moduli COM Express. Questi ultimi vengono collegati ai connettori COM Express e, a causa del numero limitato di cicli di innesto (mating cycles) dei connettori stessi, è necessario sostituire la scheda madre dopo 30 – 40 cicli di prova. La sostituzione dei connettori a 220 poli con pitch di 0,5 mm è difficile e inaffidabile.

È qui che interviene il sistema di test di Yamaichi Electronics. La connessione tra la scheda madre e i moduli è realizzata con probe pins. A seconda della configurazione e del tipo di modulo, questa unità di contatto può comprendere fino a 440 probe pins. Il punto di contatto con i probe pins è montato sulla scheda madre, utilizzando i fori di montaggio già presenti.

• Il meccanismo è stato realizzato in modo da ottenere una distribuzione uniforme della forza sul modulo, senza danneggiare i componenti presenti.
• Il sistema di test viene montato su una solida piastra di base. Proprio grazie alla robustezza della struttura, il sistema può essere installato sia in laboratorio, sia in ambiente di produzione e viene utilizzato sia per la prova di funzionamento, che per assicurare la qualità di moduli COM Express anche specifici del cliente.

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