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Verso un mondo senza fili
In Florida, una squadra di soccorso può richiedere supporto per la gestione dell’emergenza utilizzando...
EMBEDDED – Tendenze e prospettive tecnologiche nel test automatizzato
Richard McDonnell, senior group manager per il marketing dei prodotti di test automatico presso...
National Instruments presenta i backplane PXI/CompactPCI per applicazioni di test e controllo embedded negli Oem
National Instruments ha reso disponibile gli chassis PXI/CompactPCI e PXI Express in formato PCB...
Una sorgente di clock isolata per test di precisione
Molti circuiti fra cui i sintetizzatori PLL, gli ADC a elevato range dinamico o...

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Anritsu ha presentato il VNA Tensor
Anritsu ha presentato il suo VNA (analizzatore di rete vettoriale) Tensor per l’analisi delle reti...
Una soluzione integrata da Teradyne e Tokyo Electron
Teradyne ha sviluppato insieme a Tokyo Electron (TEL) una soluzione integrata che combina la...
GlobalFoundries e Qualinx per la produzione di chip europei
GlobalFoundries (GF) e Qualinx hanno dimostrato che i chip critici dal punto di vista...

Load switch intelligenti da Diodes
Diodes ha ampliato la sua offerta di load switch con il modello DML1012ALDSQ, un...
Microchip rilascia nuovi retimer PCIe 6.0 e CXL 3.1
Microchip ha aggiunto alla sua offerta di prodotti per data center i retimer XpressConnect...
Murata: nuovi convertitori DC-DC ad alto isolamento
Murata Manufacturing ha annunciato la serie di convertitori DC-DC isolati MGJ1T, una nuova gamma...