Soluzioni di misura e test - Elettronica Plus

Soluzioni di misura e test

Dalla rivista:
EONews

 
Pubblicato il 10 aprile 2009

La crisi dei mercati, la nascita di applicazioni sempre più complesse e l’evolvere di nuovi standard stanno profondamente mutando i criteri con cui devono essere progettati gli strumenti di misura e di test. A confermare quanto detto e a proporre nuovi spunti sono stati i partecipanti alla tavola rotonda organizzata dalla rivista EONews.

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