Soluzione EIS per il chipset di NXP

NXP Semiconductors ha sviluppato il suo primo chipset di battery management system (BMS) con EIS (Electrochemical Impedance Spectroscopy) integrata. Il produttore sottolinea che questo chipset permette una precisa sincronizzazione hardware-based delle misurazioni di tutte le celle in una singola batteria ad alta tensione.

La nuova soluzione di sistema è progettata per migliorare la sicurezza, la longevità e le prestazioni nei veicoli elettrici e nei sistemi di accumulo di energia consentendo di ottenere informazioni più approfondite sullo stato e sul comportamento della batteria. Consente infatti il monitoraggio in tempo reale e ad alta frequenza senza la necessità di componenti aggiuntivi o costose riprogettazioni. La soluzione basata su hardware fornisce misurazioni di impedenza estremamente accurate con trasformata discreta di Fourier integrata direttamente nel chip, aiutando gli OEM a gestire meglio la ricarica rapida e sicura, a rilevare i primi segnali di guasto della batteria e a ridurre la complessità del sistema.

“La soluzione EIS introduce nel veicolo un potente strumento diagnostico lab-grade. Semplifica la progettazione del sistema riducendo la necessità di sensori di temperatura aggiuntivi e supporta il passaggio a una ricarica più rapida, sicura e affidabile senza compromettere la salute della batteria”, ha dichiarato Naomi Smit, VP e GM, Drivers and Energy System di NXP. “Il chipset offre anche un path di aggiornamento low-barrier, con package compatibili pin-to-pin che possono essere aggiornati direttamente nelle unità di controllo dei moduli on cell e junction box della batteria.”

Si prevede che la soluzione completa sarà disponibile entro l’inizio del 2026, con software di abilitazione in esecuzione sul microcontrollore automotive S32K358 di NXP.

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