Nuovi moduli per la piattaforma AQ2300 di Yokogawa - Elettronica Plus

Nuovi moduli per la piattaforma AQ2300 di Yokogawa

Pubblicato il 17 aprile 2025
yokogawa

Yokogawa Test & Measurement ha ampliato la sua serie AQ2300 con i moduli misuratori di potenza ottica (OPM)  di nuova generazione AQ23211A e AQ23212A. AQ2300 è un sistema di test multi-applicazione per i produttori di dispositivi a semiconduttore e componenti ottici come le fibre ottiche.

I nuovi moduli sono disponibili sia in versione a uno che a due canali ed ereditano dalla precedente serie AQ2200 caratteristiche come la funzionalità e l’elevata affidabilità, a cui aggiungono, tra l’altro, una funzione di connessione sincrona tra gli OPM e l’unità sorgente-misura (SMU), velocità di comunicazione più elevate all’interno del frame e velocità di trasferimento file più elevate all’esterno del frame.  Tra i vantaggi offerti da queste soluzioni ci sono il risparmio di tempo e di spazio.

Per le principali caratteristiche tecniche, gli OPM AQ23211A/AQ23212A offrono un tempo di media di 20 µs che consente una raccolta dati più rapida e accurata, migliorando l’efficienza delle misurazioni. Inoltre, Yokogawa precisa che il tempo di trasferimento per file contenenti fino a 100.001 punti dati è ora inferiore a un secondo. Per le misurazioni di potenza ottica, il numero massimo di punti dati è aumentato da 20.001 a 1.000.001.

I nuovi OPM si integrano inoltre anche con la SMU AQ23811A già rilasciata all’interno del sistema della serie AQ2300. La SMU offre una generazione di forme d’onda a impulsi di alta qualità (ampiezza di 50 µs), elevata interoperabilità e la possibilità di eseguire misurazioni simultanee di tensione e corrente. Gli utenti possono facilmente sincronizzare la SMU e gli OPM all’interno del frame senza alcun cablaggio.

Le possibili applicazioni spaziano dalla misurazione di componenti ottici a semiconduttore come LED, LD, PD, transceiver, apparecchiature di trasmissione e guide d’onda ottiche, alla misurazione di componenti elettrici a semiconduttore, come transistor e FET, e alla misurazione di componenti ottici passivi, come le fibre ottiche.



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