Il nuovo sistema di collaudo parametrico Keysight P9000

Keysight Technologies ha annunciato il suo nuovo sistema di collaudo parametrico ad elevato parallelismo di terza generazione P9000.

Con l’introduzione della terza generazione del sistema P9000—dotata del nuovo modulo di test parametrico per pin Keysight P9015A—il tester ha ulteriormente ridotto il tempo necessario per effettuare le misure di capacità, per rispondere alla tendenza all’aumento del numero di misure da effettuare sulle capacità richiesto dalla presenza di nuovi tipi di interconnessione multi layer e delle nuove strutture dei dispositivi.

Il nuovo modulo consente di misurare le dispersioni di capacità utilizzando la tecnologia enhanced DCM e permette di ottenere una velocità più che doppia rispetto alla singole misure di capacità, mantenendo una buona correlazione per i diversi tipi di capacità (rispetto a un tradizionale misuratore LCR). A questo si aggiunge la possibilità di effettuare misure di capacità in parallelo su 100 pin che permette di ottenere un’elevata velocità dei collaudi.

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