I vantaggi dei modelli di difettosità cell-aware - Elettronica Plus

I vantaggi dei modelli di difettosità cell-aware

Dalla rivista:
Elettronica Oggi

 
Pubblicato il 13 aprile 2012

Scopo del presente articolo è illustrare la superiorità dei modelli cell-aware per il testing di produzione degli IC rispetto ai modelli di tipo gate-exhaustive

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