Advantest ottimizza l’efficienza della pulizia delle probe card

Advantest Corporation ha realizzato ACS Adaptive Probe Cleaning (APC), una soluzione pensata per ottimizzare efficacemente il ciclo di pulizia della probe card.

In genere, i produttori di chip implementano un metodo di pulizia online a ciclo fisso, che richiede una curva di apprendimento per determinare il tradeoff ideale tra pulizia e perdita di rendimento, e quindi richiede più tempo per portare a regime un nuovo dispositivo e produce più perdite di resa del necessario.

ACS APC introduce l’approccio dell’”intervallo adattivo” di Advantest per la pulizia della punta della sonda, utilizzando algoritmi di intelligenza artificiale (AI) per valutare la sporcizia degli aghi e pulendoli solo quando le rese sono compromesse, in modo da ridurre drasticamente la frequenza di pulizia. Il modello di apprendimento automatico prende il risultato del test dal primo wafer, eseguito con un ciclo di pulizia prefissato, per imparare failure pattern, passando poi alla pulizia adattiva per i restanti wafer dello stesso lotto. La valutazione richiede un tempo trascurabile per ogni wafer e non influisce sul rendimento dei test.

La nuova soluzione Advantest ACS Adaptive Probe Cleaning funziona con tutte le piattaforme ATE e i wafer prober esistenti, e non richiede modifiche ai programmi né il ricorso a specifici dati parametrici.

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