Advantest: modulo universal pin analogico - Elettronica Plus

Advantest: modulo universal pin analogico

Pubblicato il 31 marzo 2016

Advantest ha dato il via alle vendite del nuovo modulo DC Scale AVI64, progettato per dare alla piattaforma scalabile V93000 la massima copertura sul mercato in termini di applicazioni. Grazie all’innovativa architettura universale dei pin analogici Advantest, il modulo a 64 canali estende le capacità della piattaforma V93000 al test di circuiti integrati di potenza e analogici nel campo dell’elettronica dei dispositivi intelligenti connessi a Internet per i mercati mobile, automotive e Internet delle cose (IoT), tutti segmenti in rapida crescita.

 

Questi smart device combinano su un unico circuito integrato una quantità mai vista prima di funzioni analogiche e di potenza, rendendo possibili progressi quali l’allungamento della durata della batteria per i dispositivi mobili e applicazioni automotive emergenti per le automobili intelligenti e connesse.

Grazie al nuovo modulo universale di pin analogici AVI64, il sistema di test V93000 di Advantest dispone ora di tutte le funzionalità necessarie per testare dispositivi SoC avanzati. L’elevata integrazione del modulo consente di eseguire più operazioni di test con un numero inferiore di schede. In questo modo non solo si riduce l’ingombro del sistema, ma se ne migliorano anche l’espandibilità e la flessibilità, si semplificano le load board e si migliora l’efficienza dei test in parallelo (multi-site), ottenendo al contempo il costo per il test più basso del settore. Il risparmio complessivo sul costo dei test è importante rispetto ai sistemi della concorrenza i quali, per ottenere gli stessi risultati di test, si affidano invece a numerose schede.

 

Tra le principali caratteristiche del nuovo modulo per il test di smart device vi è la funzione Domain Sync, che allinea i tempi tra i segnali analogici e digitali nel dispositivo oggetto del test (DUT). Inoltre l’elevata efficienza multi-site e il funzionamento lineare e regolare del sistema riducono il time-to-market e il tempo necessario per testare i nuovi sviluppi di circuiti integrati.

 

pb



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