Nuove capacità di de-embedding per i VNA VectorStar di Anritsu

Anritsu Corporation ha potenziato i suoi VNA (Vector Network Analyzer) della serie VectorStar per rispondere ai requisiti di high data-rate del 5G e dei Data Center basati su sistemi Cloud. Nuove capacità di de-embedding, ottenute tramite l’opzione Universal Fixture Extraction (UFX) permettono infatti di validare ancora più accuratamente le prestazioni ad alta frequenza dei DUT.

L’opzione UFX infatti è stata sviluppata per risolvere le criticità di progettazione alle alte frequenze, agli elevati data-rate del 4G e degli emergenti sistemi 5G, oltre che ai backhaul e data center.

Gli strumenti avanzati di de-embedding di UFX consentono agli specialisti di aggiungere standard di calibrazione e dati caratteristici non appena questi diventino disponibili in modo da avere una migliore precisione nel fixture extraction.

Per supportare l’analisi di difetti isolati all’interno delle test fixture, nel UFX è stata inclusa una funzionalità di Sequential Peeling.

Contenuti correlati

• 
  Un nuovo amplificatore lineare PAM4 da Anritsu

  Anritsu ha iniziato le vendite del suo amplificatore lineare AH15199B a banda larga/alta potenza (2 Vpp) da 140 Gbaud, sviluppato per valutare i dispositivi di trasmissione ottica nella generazione “beyond 1 Terahertz”. Questo nuovo amplificatore lineare offre...
• 
  Le sfide del passaggio alla tecnologia 6G e sub Terahertz 

  Come sempre nel mondo delle comunicazioni globali e dell’IT, mentre l’industria è alle prese con l’adozione delle ultime tecnologie, gli sviluppatori stanno già guardando oltre la prossima “ondata”, guardando a ciò che sarà necessario tra cinque o...
• 
  IoMT e l’era della sanità digitale

  L’utilizzo di IoMT nella telemedicina è destinato a tramutarsi presto in realtà, offrendo servizi medici a molte persone, comprese quelle in aree remote e gli sviluppatori dovranno produrre dispositivi e servizi IoMT avanzati per soddisfare queste aspettative...
• 
  Anritsu migliora il Network Master Pro MT1040A con il supporto per OpenZR+

  Anritsu ha presentato il modulo multi-rate 400G (QSFP-DD) MU104014B che supporta il nuovo standard di interfaccia OpenZR+, come modulo dello strumento Network Master Pro MT1040A. OpenZR+ consente l’interconnessione di data center (DCI) a basso costo e la...
• 
  Test del Simulatore C-V2X per la guida autonoma e cooperativa

  Per testare efficacemente l’integrazione C-V2X in laboratorio, il test di guida virtuale è diventato un requisito indispensabile a causa della grande quantità di test necessari Leggi l’articolo completo su EO 512
• 
  Collaudi approfonditi per favorire la collaborazione tra dispositivi multi-tecnologia

  Anritsu offre soluzioni per testare e misurare la qualità e le performance di un dispositivo wireless in tutte le fasi di sviluppo: l’offerta dell’azienda spazia dagli analizzatori di spettro e generatori di segnali fino ai simulatori di...
• 
  Mobile xHal: sincronizzazione di frequenza, fase e tempo

  La gestione del sincronismo tra questi tre parametri è uno dei requisiti più critici per garantire il corretto funzionamento della rete Leggi l’articolo completo su EO 506
• 
  Soluzioni per la misura del consumo energetico dell’IoT cellulare

  Se si vuole misurare il consumo di potenza di un dispositivo in un ambiente chiuso e controllato, l’utilizzo di un simulatore di rete autonomo non è sufficiente perché bisogna misurare anche la potenza effettivamente consumata da un...
• 
  Le misurazioni 5G a 43.5 GHz richiedono i connettori K

  Lo standard di comunicazione mobile 5G è un (grande) passo avanti rispetto al suo predecessore 4G. L’attenzione non è più solo sul sub-6 GHz, per la comunicazione, ma su bande multiple di frequenza che soddisfano scopi diversi...
• 
  Test di applicazioni URLLC mediante Simulatori di sistema

  Le applicazioni URLLC hanno requisiti molto rigorosi per quanto riguarda latenza e affidabilità: ciò significa che dobbiamo comprendere il loro inviluppo di prestazioni per garantire il corretto funzionamento e la corretta implementazione sul campo Leggi l’articolo completo...