Advantest: nuovo sistema di test per memorie a semiconduttore ad alta velocità

Advantest ha presentato il sistema T5851, progettato per offrire una soluzione di test economicamente vantaggiosa per dispositivi Universal Flash Storage (UFS) ad elevata performance e unità a stato solido (SSD) PCIe BGA – memorie particolarmente richieste dai produttori di applicazioni mobili a basso consumo quali smartphone, tablet e laptop ultraportatili.

Il tester T5851 è disponibile sia nei modelli da linea di produzione che per sviluppo ingegneristico. Il sistema può essere utilizzato a scopi di omologazione e verifica dell’affidabilità, nonché per lo sviluppo di programmi di test, oppure, qualora collegato ad un handler come il modello M6242 di Advantest, per la produzione in volumi elevati. Soluzione di test a livello di sistema completamente integrata, T5851 offre un supporto multi-protocollo in un unico strumento mentre l’architettura tester-per-DUT e l’acceleratore hardware proprietario permettono di conseguire i migliori tempi di collaudo del settore.

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