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Advantest: handler per il test dei circuiti integrati di memoria di ultima generazione

Pubblicato il 19 gennaio 2015

Advantest ha lanciato il suo handler M6245, che consente di raggiungere la massima produttività nel settore con minimo downtime, integrando gli ultimi progressi compiuti dall’azienda nella manipolazione dei dispositivi Double Data Rate (DDR) e con memoria Flash.

L’ handler M6245 incorpora un sistema di allineamento visivo che migliora le rese dei test assicurando una precisione di contatto fino a un pitch di 0,3 mm. Ciò rende il sistema in grado di manipolare memorie con pitch ridotti. L’alta precisione di allineamento velocizza inoltre l’impostazione e la calibrazione, favorendo una maggiore produttività del sistema. Grazie all’innovativo design l’handler M6245 garantisce la massima produttività utilizzando un allineamento visivo per la gestione dei dispositivi con fine-pitch. Tale design permette inoltre di ottenere la massima produttività possibile quando si utilizza l’allineamento meccanico per i dispositivi con pitch convenzionale.

Grazie alla nuova tecnologia termica proprietaria “dual-fluid design”, la temperatura di ciascun dispositivo oggetto di prova può essere mantenuta entro ±1 °C per l’intero intervallo compreso tra -20 °C e 100 °C, mentre la precisione della temperatura è di ±2 °C sopra i due intervalli da -40 °C a -20,1 °C e da 100,1 °C a 125 °C. Ciò consente di effettuate test altamente accurati dei circuiti integrati di memoria operanti in un ampio spettro di temperature.

 

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