Nuovo riflettometro ad alta risoluzione da Yokogawa Test & Measurement

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Yokogawa Test & Measurement ha realizzato un nuovo riflettometro ad alta risoluzione. Siglato AQ7420. Questo strumento utilizza la tecnologia OLCR (riflettometria ottica a bassa coerenza) e può essere utilizzato per l’analisi della struttura interna dei moduli ottici e la visualizzazione di microfratture nei connettori ottici.

Le principali caratteristiche del riflettometro di Yokogawa  comprendono una risoluzione spaziale di 40 µm e un’elevata sensibilità di misurazione della riflessione posteriore fino a -100 dB o inferiore senza rumore spurio.

La gamma di riflessione posteriore ad alta sensibilità dello strumento soddisfa i -85 dB o inferiori richiesti per rilevare le microfessure. Offre un’incertezza di misurazione della riflessione posteriore di ±3 dB nella gamma normale (da -14,7 a -85 dB), mentre nella gamma ad alta sensibilità fornisce ±3 dB (da -50 a -90 dB) e ±5 dB (da -90 a -100 dB).

Utilizzando l’unità opzionale si possono misurare simultaneamente la perdita di inserzione insieme alla riflessione posteriore. Con questa testa del sensore opzionale, l’intervallo di misurazione della perdita di inserzione è 0-10 dB con un’incertezza di ±0,02 dB.

Sono disponibili due modelli, uno a lunghezza d’onda singola (1310 nm) e l’altro a due lunghezze d’onda (1310 e 1550 nm) per misure che contribuiscono a un’ispezione più rapida del connettore ottico.

È stato inoltre rilasciato un software di controllo per Windows 11, una testa del sensore dedicata opzionale per la misurazione della perdita, vari codici master (compatibili con una varietà di tipi di connettori) e un codice di regolazione della distanza per regolare la posizione di partenza della misurazione.

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