Due nuove soluzioni di test da SEICA

SEICA ha annunciato due nuove soluzioni dedicate al collaudo dei semiconduttori di potenza.

La prima è il sistema S20 IS³ che consente il test di dispositivi di potenza discreti, inclusi quelli realizzati con le tecnologie SiC e GaN. Progettato per test statici e dinamici sia in corrente alternata che continua, questo sistema esegue una caratterizzazione accurata e ripetibile dei parametri elettrici, un processo cruciale per garantire l’affidabilità e le prestazioni di componenti come IGBT, MOSFET e diodi, rendendolo uno strumento particolarmente utile per la ricerca e sviluppo, la produzione e il controllo qualità.

I test statici misurano parametri chiave come la tensione di stato attivo (Vce, Vds), la corrente di dispersione (Ic, Id) e la tensione di soglia (Vth), garantendo che il dispositivo soddisfi le specifiche elettriche. I test dinamici valutano le caratteristiche di commutazione, inclusi i tempi di accensione/spegnimento, i tempi di salita/discesa e le perdite di energia, che sono fondamentali per le applicazioni reali.

Il sistema di SEICA è configurabile, consentendo all’utente di includere i moduli per eseguire i test necessari, ed è espandibile, permettendo l’aggiunta di ulteriori moduli per soddisfare nuovi requisiti di test.

La seconda soluzione è siglata S20 RTH ed è un banco di prova progettato per fornire una caratterizzazione precisa della resistenza termica (RTH) con funzionalità avanzate di gestione di potenza e raffreddamento.

S20 RTH è in grado di gestire in sicurezza carichi ad alta corrente (la configurazione standard è di 1200 A a 15 V o 30 V), garantendo un’accurata valutazione delle prestazioni termiche in condizioni operative reali. L’hardware di commutazione di potenza di SEICA consente uno spegnimento programmabile e controllato della corrente di carico che riduce al minimo le oscillazioni, consentendo al sistema di eseguire misurazioni precise già dopo 80 µs dallo spegnimento dell’alta corrente. La configurazione del banco è scalabile, a partire da 2 dispositivi in prova (DUT) fino a 12 DUT testati in parallelo, a seconda delle esigenze di produttività. La temperatura, la portata e la pressione del refrigerante per ciascun DUT sono misurate e controllate automaticamente dal sistema, ottimizzando la stabilità termica e garantendo misure affidabili. Questa funzionalità semplifica notevolmente le operazioni di configurazione iniziale e può gestire temperature fino a 120 °C e portate fino a 100 l/min.

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