Advantest presenta la piattaforma MTe

MTe è una nuova piattaforma di collaudo di Advantest per dispositivi di potenza a semiconduttore, dai wafer fino a moduli di potenza integrati e complessi.

La piattaforma combina un’architettura hardware modulare, una elevata scalabilità di sistema e permette di ottenere misure rapide e precise, in modo da soddisfare le esigenze di test in settori come quelli automotive, industriale, energie rinnovabili, telecomunicazioni e HPC.

La piattaforma permette di risolvere diverse problematiche legate ai test dei semiconduttori come SiC e GaN, nonché l’integrazione di core IP digitali nei dispositivi di potenza (come moduli IPM e IPD), includendo schede di acquisizione a larga banda e alte prestazioni, controllo dei gate driver, test dinamici (e di cortocircuito) fino a 10kA.

Il produttore precisa inoltre che MTe offre una significativa riduzione dell’ingombro e una distribuzione ottimizzata delle risorse, senza compromettere le prestazioni, un fattore determinante per attrarre aziende IDM e OSAT.

“Il concetto MTe incarna la nostra visione di rendere il collaudo semplice, grazie alla sua scalabilità, flessibilità e sostenibilità”, ha dichiarato Fabio Marino, amministratore delegato di CREA, società del gruppo Advantest. “Offriamo ai nostri clienti una soluzione unificata che evolve insieme alle esigenze produttive, consentendo una transizione fluida dalla R&D alla produzione in volumi, garantendo prestazioni e affidabilità di alto livello.”

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