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Advantest: modulo di acquisizione di immagini per la piattaforma di test per semiconduttori T2000 ISS
Advantest ha presentato CMOS T2000 3GICAP, un modulo di acquisizione...
Advantest: nasce Cloud Testing Service
Advantest ha costituito una nuova società del gruppo, per gestire...
Advantest: sistema per test di memorie ad alta velocità
Advantest ha introdotto T5511, un sistema di test di nuova...
Soluzione di test efficace per componenti di potenza integrati
Da alcune recenti indagini è emerso che nei prossimi anni si registrerà una crescita...
Advantest: primi campioni di relè Mems
I nuovi componenti sono stati sviluppati per l’impiego in apparecchiature per il test dei...

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Altair integra Ultra Librarian nelle soluzioni di multifisica e di verifica ECAD
Altair ed EMA Design Automation hanno annunciato che la libreria di modelli CAD Ultra...
Premio DesignCon 2023 Best Paper Award per Tektronix
Tektronix ha ricevuto il premio DesignCon Best Paper Award 2023 per il suo contributo...
Rohde & Schwarz e IMST presentano un sistema di test di array di antenne attive per terminali satellitari
Rohde & Schwarz e IMST hanno presentato una soluzione per le misure in modalità...

Traco: nuovi convertitori DC/DC ultra compatti da 6W
Traco ha presentato le serie TEL 6 e TEL 6WI costituite da convertitori DC/DC...
Sei nuovi dispositivi Thermoflagger da Toshiba
Toshiba Electronics Europe ha ampliato la sua gamma di circuiti integrati Thermoflagger con sei...
Timing di precisione con il nuovo oscillatore Epoch Platform di SiTime
SiTime Corporation ha presentato l’oscillatore Epoch Platform, progettato per risolvere i problemi di temporizzazione...