NXP Semiconductors ha sviluppato il suo primo chipset di battery management system (BMS) con EIS (Electrochemical Impedance Spectroscopy) integrata. Il produttore sottolinea che questo chipset permette una precisa sincronizzazione hardware-based delle misurazioni di tutte le celle in una singola batteria ad alta tensione.
La nuova soluzione di sistema è progettata per migliorare la sicurezza, la longevità e le prestazioni nei veicoli elettrici e nei sistemi di accumulo di energia consentendo di ottenere informazioni più approfondite sullo stato e sul comportamento della batteria. Consente infatti il monitoraggio in tempo reale e ad alta frequenza senza la necessità di componenti aggiuntivi o costose riprogettazioni. La soluzione basata su hardware fornisce misurazioni di impedenza estremamente accurate con trasformata discreta di Fourier integrata direttamente nel chip, aiutando gli OEM a gestire meglio la ricarica rapida e sicura, a rilevare i primi segnali di guasto della batteria e a ridurre la complessità del sistema.
“La soluzione EIS introduce nel veicolo un potente strumento diagnostico lab-grade. Semplifica la progettazione del sistema riducendo la necessità di sensori di temperatura aggiuntivi e supporta il passaggio a una ricarica più rapida, sicura e affidabile senza compromettere la salute della batteria”, ha dichiarato Naomi Smit, VP e GM, Drivers and Energy System di NXP. “Il chipset offre anche un path di aggiornamento low-barrier, con package compatibili pin-to-pin che possono essere aggiornati direttamente nelle unità di controllo dei moduli on cell e junction box della batteria.”
Si prevede che la soluzione completa sarà disponibile entro l’inizio del 2026, con software di abilitazione in esecuzione sul microcontrollore automotive S32K358 di NXP.