Siemens Digital Industries Software ha presentato il software Tessent AnalogTest, una soluzione progettata per ridurre i tempi di generazione dei modelli per i test dei circuiti analogici.
In combinazione con la tecnologia Tessent DefectSim di Siemens, il nuovo software di Siemens contribuisce a ridurre sensibilmente i tempi di codifica dei test per i circuiti analogici nei circuiti integrati, generando automaticamente circuiti DFT (design-for-test) a impatto minimo e modelli di test digitali per quasi tutti i blocchi di circuiti analogici.
I test sono eseguiti in meno di un millisecondo su quasi tutti i tester e la copertura dei difetti può essere verificata in simulazione molto più velocemente rispetto ai test basati sulle specifiche.
Siemens precisa che la sua nuova soluzione permette di testare i circuiti analogici nei circuiti integrati con una velocità fino a 100 volte superiore rispetto ai metodi manuali tradizionali., permettendo di passare a tempi nell’ordine dei giorni, anziché mesi. Questa accelerazione consente ai progettisti di circuiti integrati di ottenere e verificare una copertura dei difetti elevata (oltre il 90%) basata sullo standard IEEE P2427 in poche ore per singoli blocchi di circuiti, riducendo drasticamente il time-to-market.
Un altro aspetto interessante è che questa soluzione, utilizzando apparecchiature di test automatizzate digitali (ATE) per lo sviluppo di circuiti analogici, consente di ottenere una riduzione dei costi e una maggiore produttività rispetto all’utilizzo di tester a segnale misto più costosi.
Tessent AnalogTest è già in uso presso i primi partner e sarà disponibile al pubblico nel dicembre 2025.