National Instruments ha rilasciato NI PXIe-5665, un analizzatore di segnale vettoriale (VSA) RF a 3,6 GHz che offre la migliore performance RF a basso costo in formato PXI. Il nuovo VSA offre la migliore accuratezza, dinamica, rumore di fase e rumore di fondo rispetto a strumenti analoghi presenti sul mercato. La piattaforma PXI del VSA facilita lo streaming peer-to-peer; include una flessibile architettura MIMO (multiple input multiple output) per misure di coerenza di fase; e offre velocità di misura che sono almeno cinque volte superiori rispetto a strumenti tradizionali da rack – tutte caratteristiche che lo rendono ideale per le più avanzate applicazioni di test RF automatizzato.
“NI PXIe-5665 non è solo lo strumento più performante nella sua categoria ma è disponibile a costi ridotti rispetto ai tradizionali strumenti da rack – ha affermato Phil Hester, vice presidente senior della ricerca e sviluppo di National Instruments -. “Poiché il nuovo analizzatore RF PXI combina grandi performance con flessibilità modulare in un formato compatto e accessible, gli ingegneri possono usare lo stesso strumento dalla progettazione alla produzione”.
Il VSA combina il nuovo downconverter NI PXIe-5603 con il nuovo sintetizzatore di oscillatore locale NI PXIe-5653 e il NI PXIe-5622, un digitalizzatore di frequenze intermedie (IF) a 150 MS/s. Questa combinazione crea una soluzione ideale per misure di spettro e di segnali vettoriali su un intervallo di frequenze da 20 Hz a 3,6 GHz con un analisi su larghezze di banda superiori ai 50 MHz. Il nuovo VSA presenta un rumore di fase straordinariamente basso di -129 dBc/Hz a 10 kHz di offset a 800 MHz , un rumore di fondo pari a -165 dBm/Hz, un punto di intercetta del terzo ordine di +24 dBm e accuratezza assoluta di ±0,10 dB. Queste caratteristiche fanno del NI PXIe-5665 lo strumento a più alte performance nella sua classe.
Lo strumento di auto-calibrazione su scheda del VSA, unico nel suo genere, permette di ottenere una risposta di ampiezza IF di ±0,15 dB e linearità di fase IF di ±0,1 grado per l’analisi di segnali modulati. Questa accuratezza permette una performance eccezionale nella misura del modulo del vettore errore inferiore allo 0,21 per cento per un segnale 256-QAM. L’architettura modulare e flessibile del VSA si può espandere per permettere acquisizione in coerenza di fase per test MIMO, così come una velocità di scansione di 20 GHz/s e streaming peer-to-peer per un efficiente monitoraggio spettrale. Gli ingegneri possono utilizzare NI PXIe-5665 usando la sua funzione list mode RF per passare in maniera deterministica attraverso un set definito dall’utente di configurazioni RF usando la temporizzazione interna o un trigger esterno per ridurre in maniera significativa il tempo di test.
NI PXIe-5665 diventa parte di una linea di prodotti di più di 1.500 strumenti modulari PXI definiti via software e gli ingegneri possono intercambiare e combinare il VSA con una varietà di moduli e controllare un sistema di test automatizzato intero con il software di progettazione grafica di sistema NI LabView. Questo rende i sistemi PXI ideali per molte applicazioni per test automatizzati. È possibile trarre vantaggio dalle prestazioni definite via software del VSA con i tollkit del software RF per LabView, NI LabWindows/CVI e .NET per testare gli ultimi standard RF e di comunicazione wireless inclusi GSM/EDGE, WCDMA, LTE, WLAN e WiMAX.
Per saperne di più: ni.com/rf/i