National Instruments presenta i cinque trend sul test e misura per il 2011

Il report descrive gli ultimi trend sul test e misura che incideranno nel mercato dell’elettronica

Pubblicato il 2 febbraio 2011

National Instruments ha presentato il report Automated Test Outlook 2011, che condivide i risultati della ricerca dell’azienda sulle tecnologie e metodologie relative al test e misura. Il report descrive i trend in cui sono coinvolti numerose mercati incluso l’elettronica di consumo, l’automotive, semiconduttori, aerospazio e difesa, sistemi medicali e comunicazioni. Con il report, ingegneri e manager possono trarre vantaggio dalle strategie e dalle migliori applicazioni per ottimizzare ogni organizzazione di test.

L’Automated Test Outlook 2011 si basa sui contributi provenienti dai settori accademico, industrial, forum e questionari, business intelligence e su customer advisory board. Utilizzando questi dati come base di partenza, il report fornisce una rappresentazione dei nuovi trend per far fronte alle sfide tecniche e di business nel test e nella misura. Il report si divide in cinque categorie: strategia di business, architetture elaborazione, software e I/O. I trend più importanti presenti nel report 2011 sono:

–Integrazione di test a livello organizzativo: Integrare la validazione e la produzione di test richiede un focus sui cambiamenti di strategie, processi, persone e tecnologia.
–Software di sistema: Un ambiente di sviluppo integrato fornisce un’architettura di sistema flessibile per aggiungere funzionalità di misura e ridurre i tempi di test.
–Elaborazioni eterogenee: I futuri sistemi di test richiederanno diversi tipi di nodi di elaborazione per aggiungere esigenze di analisi e bisogni di elaborazione.
–IP al connettore: La condivisione della proprietà intellettuale dei chip Fpga tra il progetto e il test consente di ridurre notevolmente la verifica/validazione del progetto, migliorando la produzione di test e la prevenzione degli errori.

Per saperne di più:
ni.com/ato
 



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