Keysight Technologies ha annunciato il lancio del Next-Generation Embedded Security Testbench, una soluzione di test scalabile progettata per soddisfare le esigenze di test di sicurezza dei chip e dei dispositivi embedded. Il produttore sottolinea che questa nuova soluzione offre maggiore flessibilità, riduce la complessità della configurazione dei test e migliora l’affidabilità e la ripetibilità delle valutazioni di sicurezza critiche.
Il nuovo testbench sfrutta un’architettura PXIe ad alta velocità progettata per rispondere alle esigenze degli attuali test di sicurezza. Rappresenta un’evoluzione significativa della linea di prodotti Device Vulnerability Analysis. Questa architettura consente di fornire risultati fino a 10 volte più efficaci nei test di analisi del canale laterale (SCA) e di fault injection (FI), tecniche cruciali per l’identificazione e la mitigazione delle vulnerabilità hardware.
La soluzione è modulare e soddisfa diverse esigenze di test. L’integrazione di componenti essenziali come oscilloscopi, apparecchiature di interfaccia, amplificatori e generatori di trigger in un unico chassis PXIe riduce significativamente la necessità di cablaggi complessi e migliora la velocità di comunicazione tra i moduli.
La piattaforma è basata su tre componenti principali: lo chassis PXIe M9046A, il controller embedded PXIe ad alte prestazioni M9038A e il software Inspector.
Le soluzioni possono essere ampliate in base alle esigenze per includere strumenti aggiuntivi per scenari di test complessi.
Keysight precisa che lo sviluppo dell’Embedded Security Testbench è continuo e prevede di introdurre ulteriori moduli potenziati in futuro.