Keithley Instruments ha recentemente migliorato le funzionalità della propria linea di sistemi per il test parametrico S530 destinato all’industria dei semiconduttori.
Supportati dalla recente versione del software per l’ambiente di test (Keithley Test Environment v 5.4), i dispositivi S530 possono ora essere configurati per la commutazione con connessioni Kelvin a 48 pin e dispongono di nuove opzioni integrate per la generazione dell’impulso, le misure di frequenza e le misure a bassa tensione.
Le migliorie introdotte consentono di soddisfare una gamma più ampia di applicazioni per il collaudo parametrico in produzione utilizzando un’unica soluzione di test economica e operante ad alta velocità.
Nella versione a bassa corrente il sistema S530 utilizza una matrice di commutazione a elevate prestazioni per collegare lo strumento ai pin di collaudo, fornendo una risoluzione di misura inferiore al pA e funzioni di ‘guarding’ a bassa corrente per i pin della sonda.
S530 supporta inoltre la configurazione di commutazione Kelvin (a quattro fili) a 48 pin, raddoppiando il numero di pin disponibili in precedenza; questo fattore consente di ottenere misure di precisione ad alta velocità e maggiore flessibilità di configurazione del sistema: in tal modo il sistema offre una copertura di test completa in grado di soddisfare anche future esigenze.
La nuova opzione ‘oscilloscopio’ supporta il collaudo dell’oscillatore ad anello in un ampio intervallo di misure di frequenza. Grazie a una velocità di campionamento che arriva a 400 MS/s, l’opzione è in grado di fornire misure in un intervallo compreso approssimativamente tra 10 kHz e 20 MHz.
Infine il sistema S530 supporta il collaudo di memorie embedded come per esempio le flash: queste richiedono l’erogazione di impulsi di tensione definiti dall’utente per programmare e cancellare le celle di memoria, seguita da misure in continua (DC) di precisione del dispositivo.