Ci sono diversi trend in atto per quanto riguarda il T&M così come si stanno evolvendo le tecnologie. Per esempio, la diffusione di nuove tecnologie come quella Advanced LTE e i relativi prodotti costringono i sistemi di test & measurement ad allinearsi con le mutate esigenze in termini di performance per la parte RF. Questo implica che la strumentazione deve poter stare al passo con più generazioni successive di tecnologie e quindi che le caratteristiche devono essere notevolmente migliori di quelle dei dispositivi devono testare.
Questo significa, per esempio che i componenti utilizzati devono disporre di caratteristiche di linearità particolarmente elevate, così come servono larghezze di banda operative decisamente ampie. A questo si aggiunge la necessità di filtri sempre più evoluti, una situazione decisamente complessa se si considerano le richieste da parte degli utenti di costi e tempi di test sempre più contenuti.
La diffusione di tecnologie RF economiche e la loro proliferazione in molteplici applicazioni, inoltre, sta ponendo ai progettisti delle sfide significative sul fronte delle interferenze e la relativa analisi. Ai progettisti servono infatti sempre di più oscilloscopi, analizzatori logici e analizzatori di spettro favorendo la diffusione di dispositivi a dominio misto (MDO) che integrano tutte queste funzionalità. Il mercato delle apparecchiature di test che combinano le capacità di misurazione di un sistema in un unico strumento è in crescita, anche perché sono spesso più semplici da installare e mantenere rispetto ai singoli strumenti separati, e sono molto meno costosi.
Dal punto di vista delle funzionalità, una tendenza arrivata sino ad oggi è legata alla disponibilità di strumenti dotati di una maggiore profondità di memoria. Nel 2013 però si dovrebbe assistere a un cambiamento di questa tendenza visto che ormai ci sono oscilloscopi proposti a meno di 1000 dollari che dispongono di memorie per decine di milioni di punti. É più probabile che gli strumenti inizieranno a offrire capacita di calcolo più sofisticate, disponibili in precedenza soltanto su strumenti basati su Windows, senza l’ausilio, e il costo, di un PC.
Foto Tektronix
Un altro trend del 2013 è legato alla necessità di ottenere un numero maggiore di informazioni approfondite nella diagnostica di dispositivi come per esempio i trasformatori di potenza il cui funzionamento veniva misurato in passato solo con modalità off-line in condizioni di tensione e corrente costanti a una singola frequenza. Queste informazioni aggiuntive possono essere ottenute tramite nuove metodologie, ma senza l’introduzione di nuovi test, e questo richiede strumenti per test multifunzionali con caratteristiche avanzate.
Nel 2013 gli esperti ritengono che ci sarà una sempre maggiore richiesta di nuove caratteristiche e capacità di elaborazione alle frequenze più elevate. La competizione sul time to market e i costi saranno fondamentali per il successo di un nuovo prodotto e questo implica la necessità di strumenti di misura sempre più veloci, ovviamente senza rinunciare a precisione e risoluzione.
Una ulteriore tendenza è la crescita della dipendenza dal software per differenziare i prodotti e offrire flessibilità. Questo spinge i produttori a cercare di ridurre il ciclo di sviluppo del software e i costi e a automatizzare le procedure di test.
Va segnalato anche il trend che vede sempre più frequentemente la presenza di interfacce semplici e la combinazione di menu di facile utilizzo su touchscreen al posto dei tradizionali pannelli affollati da pulsanti e manopole.
Dato che anche il T&M deve fare i conti con le modalità d’uso che cambiano, non stupisce se molti si aspettano nel 2013 di utilizzare apparecchiature di acquisizione dati con un tablet. Questo tipo di dispositivo si prevede in fatti che avrà un notevole impatto nel mercato del test & measurement. Questo sarà possibile ovviamente soltanto se le aziende che producono strumentazione modificheranno i loro prodotti per l’integrazione del wireless e il sopporto per i driver per Android e iOS.
Sul fronte degli standard, l’approvazione nel 2013 dell’ultima versione IEEE Std 1149.1 e l’approvazione del un nuovo standard IEEE 1687 dovrebbero influenzare in modo sensibile le modalità di test di circuiti stampati e sistemi. Entrambi gli standard infatti definiscono le modalità per l’accesso a strumenti di test embedded nei circuiti integrati.
Dal punto di vista dei trend di mercato, l’arrivo di strumenti entry level a basso costo, ma dotati di caratteristiche elevate e di alta qualità ha modificato il mercato. In pratica alcuni produttori su commissione di questo tipo di strumentazione ha deciso di capitalizzare le competenze acquisite per proporre prodotti con un proprio brand.