Rutronik ha presentato i nuovi fotorelè ad alta velocità di Toshiba utilizzabili per il test dei semiconduttori. I nuovi componenti sono siglati rispettivamente TLP3414S e TLP3431S e utilizzano LED a infrarossi migliorati e array di fotodiodi ottimizzati per ridurre i tempi di accensione fino al 62%, portandoli a 150 µs, pur conservando inalterata la qualità del segnale. Questa caratteristica permette di aumentare significativamente l’efficienza dei sistemi di test.
I nuovi dispositivi utilizzano un package S-VSON4T che è particolarmente compatto e permette di risparmiare spazio sul circuito stampato, ma migliora anche le prestazioni termiche ed elettriche grazie a percorsi del segnale più brevi.
Per le principali caratteristiche tecniche, il modello TLP3414S ha una resistenza di accensione massima di 3 Ω, mentre la versione TLP3431S arriva a 1,2 Ω. La capacità di uscita tipica di entrambe le varianti è di 6,5 pF, un elemento importante per ridurre le perdite di segnale ad alta frequenza. I valori di tensione e corrente nelle fasi ON e OFF sono di 40 V / 250 mA per il modello TLP3414S e 20 V / 450 mA per il TLP3431S.
Questi nuovi componenti distribuiti da Rutronik possono essere utilizzati per applicazioni come per esempio i tester ATE (apparecchiature di test automatiche).